日本电子透射电镜JEM-ARM200F NEOARM 样本

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JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。

技术参数：

1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm 
          TEM点分辨：0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector）
 2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x
           TEM50 to 2,000,000x
 3.加速电压： 200 kV
 4.球差校正器STEM Cs corrector Standard
             TEM Cs corrector Optional
 5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.

主要特点：

原子分辨率 S/TEM 
 标配照明系统的球差校正器，STEM分辨率 0.071 nm, 为世界zei高的商业化透射电镜，同时使其具有无与伦比的分析功能。
 
 极强的抗干扰能力和超高稳定性
 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。

可以选配成像系统的球差校正器
 点分辨率可以提高到 0.11 nm.
 
  自动球差校正软件，操作极为简单
 克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途