jeol jem-arm200f
JED-2300T 能谱仪JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。产品特点：AnalysisStationJED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析......
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜 自动像差校正软件JEOL COSMO™
参考成交价格： 2000~2500万元[人民币]
型号：JEM-ARM200F NEOARM
主要特点： ◇ 球差校正器ASCOR（Advanced STEM Corrector）“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差（即6重像散，目前阻碍透射电镜分辨率进一步提高的最大障碍。），ASCOR和Cold-FEG的完美组合实现了从高加速电压到低加速电压下的高分辨率。 ◇ 自动像差校正软件JEO......
JED-2300T 能谱仪JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。产品特点◆ AnalysisStationJED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成......
产品特点◆ AnalysisStationJED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。硅漂移检测器（以下简称SDD）的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大，检测灵敏度越高。JEM-ARM......
产品特点◆ 快速元素面分析DRYSD100GV检测器的灵敏度极高，测试Au催化剂颗粒只需一分钟。上图: 样品 负载在Ti氧化物上的Au催化剂颗粒装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器测试时间: 大约1分钟 束流电流: 1nA像素数: 256ｘ256像素◆ 实现原子分辨率的面分析Sr和Ti的原子列被清楚地分......
产品特点◆ 实现原子分辨率的面分析Sr和Ti的原子列被清楚地分离开来。上图: 样品 SrTiO3<100>装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器测试时间: 大约10分钟束流电流: 1nA像素数: 128ｘ128像素◆ 快速元素面分析DRYSD100GV检测器的灵敏度极高，测试Au催化剂颗粒只需一分钟。上......
产品特点◆ 快速元素面分析DRYSD100GV检测器的灵敏度极高，测试Au催化剂颗粒只需一分钟。上图: 样品 负载在Ti氧化物上的Au催化剂颗粒装置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV检测器测试时间: 大约1分钟 束流电流: 1nA像素数: 256ｘ256像素◆ play Back（回放）功能用JEOL制造的ED......
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求，NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式，主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色，设计精炼时尚。“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同......
点击查看下载日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正 全新电子光学仪器进展相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm &n......
点击查看下载日本电子透射电镜JEM-ARM200F NEOARM 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 技术参数： 1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm &nbs......