日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JE......
透射电镜使用电子穿透样品成像,实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用,如果使用全部的透射电子成像,必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖。JEM-2200FS采用欧米伽能量过滤器,让透过电子穿过欧米伽形状的电磁透镜系统,具有不同电子的能量将被展开,我们可以选择零损失电子成像,还可以专门突出某种原子成像,非常方便......
IB-19520CCP 截面样品制备装置IB-19520CCP在加工过程中利用液氮冷却,能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下,也能将样品快速冷却、恢复到室温,并且可以拆卸。配有传送机构,在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。产品特点:★ 冷却的效果 样品:镀锌钢板可提供500μm/h(8KV/2小......
2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2)。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:1)提高了能谱分析效率到两倍以上。2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨......
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM™ 300相比,具有更高的稳定性、效率和易用性。此外,该系统集多种功能于一体,可以处理从筛样到数据采集的整个过程,从而更灵活地为客户实现量身定做的使用体验。这些改进使用......
JCM-7000是以"谁都可以操作的SEM/EDS"为理念的台式扫描电子显微镜, 标配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新设置了中文操作界面!(选配件)◇ 本设备配备以下几个功能:1. 只要放大光学像就能观察SEM像的Zeromag功能2. 即使不切换到EDS模式也能知道图片视野中的元......
EW 简单 SEM只需选择目标视野“简单 SEM”支持日常工作样品:电子元件 加速电压:15 kV,放大倍数:×50(上部) ×1,000(下部),信号: BE 样品交换导航从样品交换引导至自动观察 安全简单!1. 按照导航指南设置样品 &nb......
日本JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM-ARM200F NEOARM NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差......
日本JEOL透射电子显微镜 JEM-ARM300F GRAND ARM JEM-ARM300F 实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨......