JEOL JEM-ARM200F电子显微镜首次产生亚原子级数据

　　第一个原子分辨率JEOL JEM-ARM200F 透射电镜在1月份到达德克萨斯大学，并于2月初开始使用出图。

　　美国JEOL 透射电镜部门的董事Thomas Isabell博士说：“三周内产生HAADF图像显示出这个新设备的稳定性和UTSA-JEOL团队的高超技术。”

　　著名电子显微镜和纳米技术研究者，UTSA物理学和天文学主席Miguel Yacaman博士检验了新ARM200F的表现、服务和应用。

　　Yacaman说：“在新的发现上，这款新显微镜的潜力是巨大的。”听得出，他非常欣赏JEOL ARM200F的亚原子研究能力。

　　ARM200F代表了JEOL在透射电镜方面60年的经验，这个设计把色差校正融入超屏蔽电子柱，以保护超高压光学不受环境干扰。

　　“ARM200F的首次安装展示了JEOL的稳定性以及超高的品质，并显示出了我们的服务和应用团队是胜任的!”Isabell说 。

　　JEM-ARM200F确保包括EDS (energy-dispersive x-ray spectroscopy) and EELS (electron energy-loss spectroscopy)在内的材料学中原子间成像和无与伦比的空间分辨率。

　　关于JEOL Ltd.

　　JEOL是世界顶级的电子光学设备制造商，为高端科研和工业研究提供设备。核心产品为扫描电镜和透射电镜。同时为半导体行业提供设备。