非接触光学测量系统
KEYENCE 基恩士 形状测量激光显微系统全新 VK-X3000搭载白光干涉功能纳米/微米/毫米一台即可完成测量超越激光显微镜的限制，以三重扫描方式应对一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米一台即可了解希望获取的信息VK-X3000 系列形状测量激光显微系统采用了三重扫描方式，运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，高倍率和低倍率，平面......
仪器简介： DA7200仪器特点介绍 光学系统特点 采用卤钨灯和汞灯光源，双光束同时检测，具有zei稳定的光学系统，独特的固定全息光栅份光和铟葭砷二极管阵列检测技术（电制冷恒温）全光谱同时扫描，波长范围900-1700nm，无波长漂移 测量速度快，灵敏度高，数据光谱收集速率100次/秒 软件系统特点 仪器具有自诊断功能......
PIV技术是一种光学的非接触测量技术，它的zei大贡献是突破了LDA（Laser Doppler Anemometer）激光多普勒测速仪等空间单点测量技术的局限性，既具备了单点测量技术的精度和分辨率，又能获得平面流场显示的整体结构和瞬态图像，可在同一时刻记录下整个流场的有关信息，并且可分别给出平均速度、脉动速度及应变率等信息。同时，它的结果可以与......
仪器简介历经50余年技术研发与进步，德国 Berghof 公司 Speedwave 系列微波消解系统在 AAS、ICP-OES、ICP-MS 及电化学分析等领域，特别是在痕量元素分析方面，有着广泛的应用及突出的表现，广泛应用于材料、地矿、环境、能源、食药等领域。德国品质，值得信赖！Speedwave Xpert 微波消解系统（简称 SW-Xpert）具有 2......
NPFLEX 三维表面测量系统针对大样品设计的非接触测试分析系统灵活测量大尺寸、特殊角度的样品高效的三维表面信息测量垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据，测试过程迅速高效NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量布鲁克的NP FLEXFLEXFLEX TM 3D 表表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力， ......
低温强磁场光探测磁学成像系统attoCSFM 在低温和纳米尺度下，对材料的磁学性质进行成像是超导、磁学和材料科学领域的研究者非常关心的课题，常用的分析方法包括了低温磁力显微镜（MFM）和低温扫描霍尔显微镜（SHPM），以及zei......
仪器简介： 德国FRT测量系统（白光干涉仪）应用于所有类型的表面测量分析。采用一个或多个传感器高精密地测量轮廓，表面粗糙度，平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。适合研究开发和生产质量控制。 仪器使用光学白光色差传感器进行非接触无损伤测量，......
多功能轮廓测量仪可消除死角，测量光泽面消除非接触的“无法测量”操作简单的轮廓测量仪。侧面和背面，都可用电动旋转单元测量。最快1 秒对整个面进行高精度3D 测量消除死角，光泽面也可测量一台应对图纸指示3D 轮廓测量仪VR-6000 系列3D 轮廓测量仪“VR-6000 系列”以非接触方式直接实现粗糙度仪、形状轮廓测量仪的测量。3D 轮廓测量仪以 0.1 µm ......
仪器简介： 德国JPK公司生产的NanoWizard®原子力显微镜专注于软物质与生物科学领域的，高解析成像，其度独特的设计方式提供了从微观光学显微镜观测到纳米尺度高清晰成像的完美衔接，同时与传统设计方法不同的是JPK公司的设计方式使得光学显微镜观测性能与原子力显微镜的测量性能都不受影响，使得高分辨、原位、动态的原子力成像研究......
仪器简介： LEXT 4000备有常规显微镜的功能，并有BF，DF，DIC等多种观察方法。它以405nm短波长半导体激光为光源,通过显微镜内高精度扫描装置对样品表面的二维扫描，获得水平分辨率高达0.12μm的表面显微图像,通过显微镜高精度步进马达驱动和5nm光栅控制的聚焦装置，运用共聚焦技术（Confocal），逐层获取样品......