plasma中氩气
ARL iSpark 8860和ARL iSpark 8880金属分析仪提供的可选 Spark-DAT 方法提高了仪器的通用性。从常规使用到研发，Spark-DAT 方法均可为钢铁工业的夹杂物分析提供快速、简单、高性价比的解决方案。在目前钢铁工业可用的所有夹杂物分析方法中，Spark-DAT 方法是最快的。标准夹杂物分析 Spark-DAT 方法实现......
赛默飞有机元素FlashSmart可用于测定土壤，适用于氮项目。并且参考多项行业标准。可应用于土壤行业领域。 悠久的历史及不断创新的技术进步赛默飞世尔的元素分析仪(原CarloErba公司)作为元素分析仪的先导，从1948年开始商业化其元素分析仪。2017年底推出的最新型号FlashSmart ，集80年的专业技术经验、创新、科技进步于一体的全新......
半导体检测仪PlasmaPro 100 Cobra牛津仪器 Plasma Solutions for Optoelectronic Semiconductor Device Manufacture
参考成交价格： 暂无
型号：PlasmaPro 100 Cobra
牛津仪器刻蚀和沉积设备PlasmaPro 100 Cobra可以用在纳米材料行业领域，用来检测Optoelectronic Semiconductor，可完成Optoelectronic Semiconductor项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Plasma Solutions for Optoelectronic Semico......
原子层刻蚀牛津仪器半导体检测仪 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture
参考成交价格： 暂无
型号：PlasmaPro 100 ALE
牛津仪器原子层刻蚀PlasmaPro 100 ALE用于测定Semiconductor，符合行业标准Oxford Instruments。适用Semiconductor项目。 Plasma Solutions for Discrete Semiconductor Device Manufacture 我们的设备和工艺已通过充分验证，正常运转时间可达90%以上......
PlasmaPro 100 ALE原子层刻蚀牛津仪器 Plasma Solutions for Optoelectronic Semiconductor Device Manufacture
参考成交价格： 暂无
型号：PlasmaPro 100 ALE
牛津仪器半导体检测仪PlasmaPro 100 ALE用于测定Optoelectronic Semiconductor，符合行业标准Oxford Instruments。适用Optoelectronic Semiconductor项目。 Plasma Solutions for Optoelectronic Semiconductor Device Manu......
安捷伦Agilent ICP-OES5110适用于对使用过的润滑油进行多元素分析项目，参考多项行业标准ASTM D5185–18 Standard Test Method for Multielement Determination of Used and Unused Lubricating Oils and Base Oils by Inducti......
安捷伦Agilent ICP-OES5110用于测定基础矿物油，符合行业标准ASTM D5185–18 Standard Test Method for Multielement Determination of Used and Unused Lubricating Oils and Base Oils by Inductively Coupled ......
安捷伦ICP-AES5110参考多项行业标准ASTM D5185–18 Standard Test Method for Multielement Determination of Used and Unused Lubricating Oils and Base Oils by Inductively Coupled Plasma Atomic Emi......