表面缺陷自动检测设备
仪器简介：应用： ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数：KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该设备利用激光扫描样品的整个表面，通过4个频道（散射光频道、反射光频道、相移频道及Z频道）的探测器所收集到的信号，快速的将缺陷（包括微粒、划伤、坑点、污染、痕迹......
一、产品概述 土壤墒情速测仪又名非接触式土壤水分测量仪、土壤墒情测量仪，是一款以介电常数原理为基础的传感器。能够针对不同土层的土壤水分含量进行动态观测，而且是进行快速、准确、全面地观测，让人们实现对土壤的高度感知。 监测系统平台，界面地图可定位设备位置，可直观的查看和查询设备数据、历史数据、单位、预警上限、预警下限......
技术指标法向载荷精细量程zei大量程zei大载荷 [N]100200分辨率[mN]36本底噪音 [rms] [μN]*1000划痕深度精细量程zei大量程zei大深度 [μm]1001000深度分辨率 [nm]1,515本底噪音 [rms] [nm]*2.5摩擦力精细量程zei大量程zei大摩擦力 [N]100200摩擦力分辨率 [mN]36 主要......
国仪量子 扫描电子显微镜 SEM3200可用于测定光伏电池，适用于表面缺陷和结构形状项目。并且参考多项行业标准太阳能电池绒面的研究。可应用于电子/半导体行业领域。 五分割半导体背散射探测器——多通道成像探测器设计精巧，灵敏度高，采用5分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。单通道阴影像成分像能谱LED小灯珠能谱面分析结果。 ......
国仪量子 场发射扫描电镜 SEM5000可以用在航空/航天行业领域，用来检测光伏电池，可完成表面缺陷和结构形状项目。符合多项行业标准太阳能电池绒面的研究。 SEM5000是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描电子显微镜。先进的镜筒设计，高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无漏磁物镜设计，实现了低电压高分辨率成像，同时磁性样品可适用。光学导航、完善的......
OSIRIS Hot和OSIRIS Cold在一个系统中融合了两种检测功能，用于钢铁及金属行业的先进的在线表面缺陷和轮廓测量系统。OSIRIS测量解决方案可作为轧机和轧线的一部分运行，可以测量高达1100摄氏度下高速通过测量站的各种型材。OSIRIS系统采用最先进的激光技术和高采样率，可对轮廓或长材进行完整的三维重建，检查轮廓形状的尺寸精度，并在单次操作中检......
