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2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
JEM-1400Flash 透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。产品特点：从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域，而且用途越来越广。其中，以生物领域为首的高分子材料研究、......
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为：......
JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1，插拔样品杆；2，电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]STEMx 20,000 ～ x 200,000,000TEMx 20......
JEM-F200 场发射透射电子显微镜以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。外观设计精炼精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在......
2021年1月22日，日本电子株式会社（JEOL）全球同步发布300KV冷冻电镜的升级版JEM-3300,主要特点如下：1）更稳定的冷场发射电子枪2）全自动欧米伽能量过滤器3）最高加速电压300kV4) 自动进样装置5）自动单颗粒数据采集软件6）JEOL成熟的相位版技术7）高效全自动操作软件JADAS8）科勒照明光路等产品特点：高效、易于操作且随......
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。◇ 装置主体● 可配置Cs校正器和CFEG● 高速高精度的stage 与现有的马达驱动控制相比速度......
IDES是时间分辨透射电子显微镜（TEM）领域的领导者和先驱，专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时间分辨功能，能够在非常快的时间尺度范围内进行新的应用和对样品进行动态研究。■ JEM-2100 时间分辨电子显微镜该设备是利用一个或多个激光器进行pump-探针实验而设计的用于研究样品中的......
点击查看下载日本电子透射电镜JEM-ARM200F NEOARM 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 技术参数： 1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm &nbs......