日本电子株式会社(JEOL)
400-6699-117转1000
热门搜索：
黄金会员
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F
发布时间：
2010-07-06 15:12
来源：日本电子株式会社(JEOL)
| 资料类型： |
| 资料文件名 | 下载 |
|---|---|
300kV场发射透射电子显微镜_JEM-3100F.pdf |
下载此篇资料 |
300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F
JEM-3100F具有世界同档次最高分辨率0.17nm。采用最先进的数字化控制系统，操作更简单。应用范围非常广泛。
主要特点：
1）全球同档次最先进的透射电子显微镜
2）实现同档次全球最高分辨率
3）操作更加简单
4）扩展性更强
5）稳定性极高
技术参数：
点分辨率：0.17nm
线分辨率：0.1nm
STEM ：0.14nm
电子枪 ：肖特基式热场发射枪
亮度 ：7x108A/cm2sr以上
束流强度：0.5nA 以上/1nm
放大倍数：x60 - x1,500,000
能谱立体角：0.13sr
