安捷伦 半导体测试仪
安捷伦ICP-AES5900 ICP-OES 可用于测定半导体，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS ......
安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 IC......
安捷伦紫外Cary 5000适用于表征，透射性，杂质检测和识别项目，参考多项行业标准。可以检测滤光片，玻璃等样品。可应用于建材/家具行业领域。 安捷伦 Cary UV-Vis-NIR 固体样品支架用于固体样品固定位置的透射率测量。有几种配合支架使用的光阑掩屏可选，便于小样品的光束准直和测量。支架的多样性使其可进行各种测量配置，以便对各种类型和尺寸的样品进行测......
安捷伦Agilent ICP-OES5800参考多项行业标准。完成半导体的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的元素分析项目。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发......
安捷伦Agilent 5900 SVDV ICP-OES 5900 ICP-OES 用于测定半导体，符合行业标准。适用元素分析项目。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可用于测定抗反射涂层,玻璃,建筑玻璃,金属/合金,激光镜片，适用于反射率,透射率,反射率,吸光度,测量涂层率,厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，在 175-3300 nm 范围内具有......
安捷伦Agilent ICP-OES5800可以用在日用化学品行业领域，用来检测食品，可完成-项目。符合多项行业标准。 您是否需要对ICP-OES样品进行多次重复测量？ICP-OES使用中，需要重新测量的常见问题有哪些？如何避免这些问题？ICP-OES电子书帮您解决 Agilent 5800 ICP-OES 仪器是一款专为业务繁忙的实验室而设计的光谱仪......
安捷伦ICP-AES5800可用于测定半导体，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导......
点击查看下载安捷伦Cary 4000紫外 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 由于仪器的光度线性范围限制，仪器随着光密度或浓度的增加测量吸光度的准确度会受到影响。光度线性度差会使仪器产生不正确的结果，并导致校准曲线变得非线性。滤光片技术的加入提供了一种简单而价廉的方法来证明大多数分光光度计的光度线性范围。本文主要介绍通过测试证明了新一代Cary40......
点击查看下载安捷伦7850 ICP-MSICP-MS 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 7850 ICP-MS 配备一系列智能功能和工具，可减少 ICP-MS 分析工作流程中的时间陷阱。 使用 Agilent 7850 ICP-MS 避免 ICP-MS 分析中常见的时间陷阱。这一智能方法可减少时间浪费，让忙碌的工作人员可以专注于更有价值的任务......