f380 半导体测试仪
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.......
由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧......
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）· 通过区域传感器控制的安全构造· 搭载可私人定制测量顺序的强大功能· 即便是没有经验的......
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪，具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析，空间分辨率＜ 800nm （典型值），也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有智能化的软件，可对数据进行拟合计算，直接将载流子浓度、晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。系统稳定，重复性好，可用于实验室检验或者产线监......
粉末电阻率测试仪（四探针法）产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）产品型号：FTDZS-I参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探......
精微高博比表面JW-DX-01可用于测定材料，适用于材料分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 BET比表面积是包含外表面和所有通孔的内表面积在内的总表面积；外表面是扣除小于2nm微孔的内表面积以后的表面积，显然，BET比表面与外表面之差即为小于2nm的微孔的内表面积，这已演变成为计算微孔内表面积的一种方法。 bet比表面积仪 ......
粉末电阻率测试仪（四探针法）产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）产品型号：FTDZS-I参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探......
梅特勒托利多 SevenExcellenceS400 台式pH ORP ISFET 离子浓度 电导率多参数测试仪PH计 应用于电子/半导体
参考成交价格： 暂无
型号：SevenExcellence S400
点击查看下载梅特勒托利多 SevenExcellenceS400 台式pH ORP ISFET 离子浓度 电导率多参数测试仪PH计 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 食品的酸度是食品行业的一个重要参数。在口味方面存在个人差异和文化差异，同时考虑到耐储藏性，因此有必要密切监测食品的酸度。以下指南介绍了根据产品和要求测定酸度和酸含量的不同方法。 仪器......
PH计 SevenExcellenceS400 台式pH ORP ISFET 离子浓度 电导率多参数测试仪梅特勒托利多 应用于电子/半导体
参考成交价格： 暂无
型号：SevenExcellence S400
点击查看下载PH计 SevenExcellenceS400 台式pH ORP ISFET 离子浓度 电导率多参数测试仪梅特勒托利多 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 本手册是梅特勒托利多精选的乳制品行业解决方案，涵盖原材料检测、生产过程监控及最终产品质量控制。方案介绍的多是常规检测，然而一些材料性能测试也可以用在生产技术开发和新产品研发上。 对于......
粉末电阻率测试仪（四探针法）产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）产品型号：FTDZS-I参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探......