表面 bruker
Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触......
安东帕全自动比表面和孔径分布分析仪Autosorb-iQ可用于测定粉体，适用于比表面积项目。并且参考多项行业标准安东帕。可应用于制药/仿制药行业领域。 因为氮气占空气中的比例为78%，其饱和蒸汽压约比当地大气压高10torr。出现以下情况，说明液氮明显不纯： 新一代气体吸附分析仪——吸附领域新纪元的开始安东帕公司研发的z......
ContourX家族中的高效能台式光学轮廓仪，配备自动XYZ样品台，高级查找表面功能，拼接及大范围成像功能亮点ContourX-200ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合，是同类产品中最快、最准确、可重复性最高的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小，采用更大视场、5MP 数码摄像头和全新电动......
流线型桌面式的ContourX系列，配备先进白光干涉模块、快速自动聚焦和自动亮度调节、手动样品台及倾斜控制亮点ContourX-100具备最高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。......
专为测量PCB面板的每一层而设计，为半导体封装工业提供高性能、高可靠性和高通量的测量亮点ContourSPContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连 PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍以上。该系统专用于在制造过程中测量 PCB 面板的每一层，融入了一大批先进测量功能，大幅提升半......
用于大规格晶圆和面板制造领域，可容纳大样品，集成被动防震台亮点Dektak XTL探针式轮廓仪Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像......
NPFLEX 三维表面测量系统针对大样品设计的非接触测试分析系统灵活测量大尺寸、特殊角度的样品高效的三维表面信息测量垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据，测试过程迅速高效 NPFLEX 为大尺寸工件精密加工提供准确测量布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产......
激光共聚焦显微镜较常规荧光成像设备的分辨率更高，并且具有良好的光学层切能力，已经成为生命科学研究中的常规仪器。但是常用的点扫描激光共聚焦产品成像速度慢，光毒性大，不适合活细胞成像。其替代产品转盘共聚焦显微镜虽然在成像速度以及光毒性方面有所提升，但是荧光串扰严重，不适合厚样品的荧光成像；并且转盘上的针孔尺寸固定，只能针对某一特定物镜才具有共聚焦效果。为解决这一......
用于成像和光学操控的完整全光学多光子工作站亮点Ultima 2Pplus凭借在视场、灵敏度、波长和样品调节方面的新进步，Ultima 2Pplus 提供了灵活性、分辨率、成像深度和速度的理想组合，使用户能够以更高的效率和有效性同时执行成像、刺激和电生理学方案。该系统专为活体成像而设计，对目标X-Y-Z位置进行全电动控制，以及两个旋转轴，用于精确成像方向。第二......
使用终极多模态生物成像超分辨率显微镜彻底改变您的实验室。亮点Vutara VXL布鲁克 Vutara VXL 超分辨率显微镜将行业领先的单分子定位显微镜 （SMLM） 技术集成在一个占地面积紧凑的流线型系统中。Vutara VXL 系统使研究人员能够对 DNA、RNA 和蛋白质进行高级研究，包括大分子复合物、超结构、染色质结构和染色体亚结构。该新系统还支持基......