表面 bruker
Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领xian地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触......
主要特点：测量原理 ：在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 ZETA 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZETA 电位即可定义为固体表面的固定层......
安东帕全自动比表面和孔径分布分析仪Autosorb-iQ可用于测定粉体，适用于比表面积项目。并且参考多项行业标准安东帕。可应用于制药/仿制药行业领域。 因为氮气占空气中的比例为78%，其饱和蒸汽压约比当地大气压高10torr。出现以下情况，说明液氮明显不纯： 新一代气体吸附分析仪——吸附领域新纪元的开始安东帕公司研发的z......
布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，......
布鲁克UMT TriboLab摩擦磨损测试仪和机械测试仪提供更高速度、更大扭矩和更好的力测量，以及用于提高效率和易用性的各种强大的新特性亮点UMT TriboLab布鲁克通用机械测试仪 （UMT） 平台自 2000 年推出第一款型号以来，一直是市场上功能全、使用广泛的摩擦仪。现在，新设计的UMT TriboLab™基于多功能的设计传统构建，具有独特的模块，实......
成熟的技术，增强的性能亮点基于 55 年的表面测量创新和技术领先地位，Dektak Pro™ 为测针轮廓仪性能树立了新标准。该系统以无与伦比的易用性提供最高质量的数据。第 11 代 Dektak® 系统结合了：无与伦比的精度和优于 4 Å 的重复性加快测量和分析速度一套布鲁克独有的多功能性和易用性功能只有 Dektak Pro 能够提供最新的测针轮廓测量技术......
一款易于使用的大视场多光子显微镜，可随着您的研究而成长亮点Ultima Investigator Plus作为布鲁克 Ultima 系列多光子显微镜中最精简的型号，Ultima Investigator Plus 建立在针对实时成像优化的平台上。通过扩展的视野、增强的检测路径和升级选项2Pplus平台，Investigator Plus 可以随着研究需求而增......
纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究的终极解决方案亮点Dimension XR布鲁克的Dimension XR扫描探针显微镜（SPM）系统攘括了原子力显微镜数十年来的研究和技术创新。通过常规的真原子相分辨率，以及一系列独特的技术，包括峰值力轻敲模式、数据立方体模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系统可提供最强的性能和功能。Dimensio......
首创、独有的纳米红外功能和性能Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了纳米级红外光谱（nanoIR）技术和扫描探针显微镜（SPM）技术的系统。它整合了数十年的技术创新和研究成果，可以在单一平台上提供无与伦比的纳米级红外光谱、物理和化学性能表征。该系统具有超高的单分子层灵敏度和化学成像分辨率，在保留Dimension Icon®最佳的......
SEM PicoIndenter 系列Hysitron PI Envision SEM PicoIndenter原位纳米力学测试的扩展价值和能力亮点Hysitron PI Envision SEM PicoIndenterHysitron PI Envision 是一款前沿的纳米机械测试仪器，设计用于标准扫描电子显微镜（SEM）、FIB-SEM、小腔室扫描电......