布鲁克公司精彩亮相ChinaNano2015会议

9月3日，ChinaNano 2015在北京国际会议中心隆重开幕。作为纳米表面技术的重大盛典，布鲁克公司成功赞助了此次会议。

9月4日上午11时，中国科学院白春礼院长参观了展台，并第一个来到布鲁克展台指导工作，随行的还有北京大学刘忠范院士、国家纳米中心王琛主任等。布鲁克公司亚太区应用科学家孙万新博士、中国区应用科学家仇登利博士分别向白春礼院长介绍了扫描速度最快的原子力显微镜——Dimension Fastscan的技术创新点和扫描工作状态。

9月5日上午，江雷院士亲临布鲁克展台，布鲁克中国区服务主管孙昊博士、中国区应用科学家仇登利博士分别向江雷院士介绍了Dimension Fastscan的技术细节。

此次会议恰逢中国抗日战争胜利70周年庆典和阅兵仪式，3日上午，布鲁克公司特意安排，在展会现场直播了阅兵的全过程，让所有参会人员参会的同时，也齐聚布鲁克展台观看了阅兵仪式，为本次展会增添了一抹亮色。

布鲁克公司亚太区应用科学家孙万新博士还受邀做了会议报告，得到非常好的反响。

布鲁克公司会一直致力于纳米表面测量研究，在此感谢所有支持布鲁克公司的老师和同学，我们会更加努力，为科研工作者提供更强劲更精确的工具。

【产品介绍】

本次展会上，布鲁克公司主要展示了扫描速度最快的原子力显微镜—Dimension Fastscan，得到了众多科研工作者的肯定和关注。

Dimension FastScan

世界上扫描速度最快的原子力显微镜
扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能

    Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension  Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

    为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。