有机薄膜测厚仪
仪器简介：热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线，可以在线测量薄膜的厚度，并反馈信号自动控制模头螺栓，使薄膜厚度均匀，提高产品质量，降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有Demo中心，将zei新的EPOS操作系统和扫描架模型展览出来，可以为用户提供专业的培训服务。热电瑞美公司产品的主要应用范围有： ......
球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了......
赛默飞在线测厚RM210AF/AS用于测定水泥,煤,矿浆,钢板,薄膜,电池隔膜,食品,药品，符合行业标准。适用解决方案项目。 材料与矿物Materials and Minerals (M&M)相关市场、产品和解决方案介绍 铝箔和铝冷轧测厚仪......
整体式仪器适合单手操作，因为在测量中，使用"大脚探头"，大接触面可以提供更好的稳定性，使用户能够获得持续且重复性强的结果。分体式则提供多种探头，使测量更加灵活。易高456涂层测厚仪带有扫描探头，凭借其高度耐用的设计，用户可以获取单独的干膜厚度读数或快速扫描大表面积，而不会损坏探头或涂层。扫描探头使用户能够显着减少干膜厚度检查时间，并不会影响准确性，读数速率高......
◆无需校准片校准◆铁基/非铁基两用探头◆轻便：重量只有110g无需校准：大多数测厚仪需要用校准片进行调整，除了零点校准。在测量某一范围厚度时，则需要用相应范围的校准片进行调整。这样会导致无法满足全范围内的线性精度。此外，操作繁琐，同时因为校准片表面粗糙而失效，增大了系统误差。温度补偿：涂覆层厚度的测量会受到温度影响，同一工件在不同温度下测量会导致大误差。因此......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是基于薄膜的反射光干涉原理，用于测量和分析薄膜厚度。适用于半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。 工作原理光学薄膜厚度测量系统，是基于薄膜的反射光干涉原理，用于测量和分析薄膜厚度。它利用波长范围为200-1700nm的光垂......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。适用于测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。利用波长范围最宽为200-1700nm的......