光学薄膜测厚仪
产品简介： 使用K-MAC公司的先进光谱系统，可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口，并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建，而测量过程也仅需要基础的电脑知识。 产品特征： 1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，......
仪器简介：热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线，可以在线测量薄膜的厚度，并反馈信号自动控制模头螺栓，使薄膜厚度均匀，提高产品质量，降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有Demo中心，将zei新的EPOS操作系统和扫描架模型展览出来，可以为用户提供专业的培训服务。热电瑞美公司产品的主要应用范围有： ......
ATGX310系列光学薄膜厚度测量仪产品概述光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。工作原理光学薄膜厚度测量系统，是利用薄膜反射光干涉的原理，对薄膜进行厚度测量及分析。它利用波长范围最宽为200-17......
综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 ......
综合概述 SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM230就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，其厚度最大测绘范围可以 达到5nm~250um，并支持测量点位路径绘制及......