arm200f
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜——富瑞博国际有限公司代理多家国际知名仪器厂商产品仪器简介：JEM-ARM200F的电子光学系统标准配备了一体化的球差校正器, 其扫描透射像分辨率(STEM-HAADF)达到了0.08nm，为商用透射电子显微镜分辨率的世界之最。保证0.08nm的世界最高STEM (HAADF) 分辨率ARM200F为电......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大......
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven......
JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。标配照明系统球差校正器，且zei大限度地升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 ......
产品特点：JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。STEM-HAADF像的保证分辨率（78pm*1 ）为世界之领先性能标配照明系统球差校正器，且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、......
产品规格：分辨率扫描透射暗场像82pm（加速电压200kV、肖特基场发射电子枪）78pm（加速电压200kV、冷场发射电子枪）透射像（点分辨率）190pm（加速电压200kV）110pm（加速电压200kV、安装TEM球差校正器）倍率扫描透射像X200～X150,000,000透射像X50～X2,000,000电子枪电子枪肖特基场发射电子枪 冷场发射电子枪（......