半导体专用材料
半导体材料（semiconductor material）是一类具有半导体性能（导电能力介于导体与绝缘体之间，电阻率约在1mΩ·cm～1GΩ·cm范围内）、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。AstruM ES是一台双聚焦辉光放电质谱仪，一次扫描就可以测定从亚ppb到基体之间所有元素的含量。它被广泛地应用在高纯金属，半导体材料，航空航天材料的杂质检测。......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 半导体制造解决方案 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测64位系统，实现......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在高分子材料行业领域中的Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Semiconductor Devices，符合行业标准Oxford Instruments。适用Semiconductor Devices项目。 Before volume production of semiconductor devices, it is crucial that t......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可用于测定 Li-Ion battery，适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于高分子材料行业领域。 Lithium Ion batte......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 失效分析 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测6......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Semiconductor Devices，可完成Semiconductor Devices项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Before volume production of semiconductor devices, it......
精微高博电池材料专用基础型比表面测试仪JW-BK222可以用在电子/半导体行业领域，用来检测导热粉体，可完成比表面积测试项目。符合多项行业标准。 随着5G时代的来临，智能手机、家电产品向着小型化、智能化发展，产品硬件的创新升级对其导热性能提出了新的要求，如：对导热材料的导热系数和长时间工作的导热稳定度要求逐渐提高。 氮吸附BET比表面积测试仪 &......
精微高博孔径分析仪JW-BK222参考多项行业标准。完成导热粉体的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的比表面积测试项目。 随着5G时代的来临，智能手机、家电产品向着小型化、智能化发展，产品硬件的创新升级对其导热性能提出了新的要求，如：对导热材料的导热系数和长时间工作的导热稳定度要求逐渐提高。 P0位：可实时、准确测量氮气的饱和蒸汽压；升降系统：2个样品分析......