电镜和光学显微镜
由于我们的系统采用模块化设计，因此产品设计者能够很方便地挑选在光学、机械和电子方面最能够满足其系统要求的组件和物镜。除物镜外，设计人员还可选择使用诸如镜筒透镜、照明器、物镜转换器和自动对焦单元等现成组件。镜筒透镜U-TLU在不需要通过目镜进行观察时，采用专门设计配合成像传感器使用的镜筒透镜单元则成为最佳之选。我们还推出一种专为透射近红外波长而设计的产品型号。......
正置反射光及透射光镜架我们的模块化正置显微镜镜架可实现针对特定应用的配置。镜架采用科勒照明穿过透镜后焦平面实现均匀光线分布，最终获得精确的图像。照明器上方的无限远空间可以容纳光学组件和激光输入器件。现已推出两个正置显微镜系列产品。BX3M系列专为反射光应用而设计的该系列产品可以实现反射光明场、暗场、DIC和偏振成像BX3系列BX3系列专为透射光和荧光成像而特......
STELLARIS 5 Cryo是一个共聚焦光学显微镜系统，可以帮助您针对感兴趣的区域进行定位以辅助冷冻电子断层扫描(CryoET)。STELLARIS 5 Cryo为您提供可靠的目标定位精准度, 同时还能提供您可以信赖的卓越性能，并提高实验效率。您获得的优势以简单、可靠且高效的方式进行共焦三维目标结构定位以辅助后续的冷冻电子断层扫描受益于STELLARIS......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Pollutant Particles，可完成Pollutant Particles项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 监测和过程控制 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款......
点击查看下载 InTouchScope™ 扫描电子显微镜JSM-IT200扫描电镜 观察和分析磁性样品相关资料，进一步了解产品。 JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计，使得观察和分析磁性样品变得非常容易，即使是磁性粉末或者磁性极强的样品也没有问题。 ■完成样品交换的同时观察开始 样品......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载岛津IRTracer-100红外 光学元件上微小异物的测定–采用显微镜AIM-9000 进行扫描和识别相关资料，进一步了解产品。 IRTracer-100提升干涉仪、检测器性能，使SN比高达 60,000:1，实现领先本档次仪器的高灵敏度，同时支持高速反应跟踪。与操作性能得以提高的 LabSolutions IR 异物解析程序相组合，即便是微小......
点击查看下载 Axia™ ChemiSEM™ 扫描电镜Thermo Scientific™扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失......
点击查看下载日本电子扫描电镜 InTouchScope™ 扫描电子显微镜 观察和分析磁性样品相关资料，进一步了解产品。 JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计，使得观察和分析磁性样品变得非常容易，即使是磁性粉末或者磁性极强的样品也没有问题。 EW 简单 SEM只需选择目标视野“简单 SEM”支持日常工作样品：......
产品特点采用MEMS微加工工艺在原位样品台内构建液氛纳米实验室，通过样品台内置的光纤将光作为外场条件搭载其上，通过MEMS芯片和光纤引入的光源对样品施加光场刺激条件，在进行光学性质测量的同时，结合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在液氛环境中随光场变化产生的微观结构演化、反应动力学、相......