电子显微镜的探测器
CMOS的速度，CMOS的灵敏度，两者可兼得！CMOS的速度 Symmetry EBSD探测器，速度超过3000点/秒。不仅针对常规应用，还可应用于大面积面分布、3D EBSD和原位实验等。 CMOS的灵敏度 无可比拟的灵敏度和动态范围，使得Symmetry成为zei具挑战性应用的理想之选。快速和高灵敏度，......
牛津仪器 Symmetry EBSD探测器 EBSD——电子背散射衍射仪——是一种强大的微观分析仪器，它能精密的分析和表征晶态材料的微观组织和性能，提高速度和数据质量。 Symmetry是牛津仪器公司基于CMOS技术发展的全新一代EBSD探测器，拥有空前的性能和易用性： 实时标定速度高达3000点/秒 相比传统CCD技术探测器速度提高30倍以上 ......
作为对能谱技术革新的回应，牛津仪器发布了全新一代能谱系列产品Ultim Max，该系列产品对能谱的探测器、信号处理和软件系统进行了全新的升级，分析能力达到了前所未有的水平。Ultim Max探测器的晶体面积从40mm2到170mm2，随着SDD面积的增加，同样工作条件下，能谱信号收集能力随之提高。Ultim Max采用最新电子电路设计和新一代X4脉冲处理器，......
由美国LosAlamos国家实验室和San Jose大学等研发的能量范围从热中子到5 GeV的宽能中子探测器，符合H*(10) ICRP74，并在1996年获得了美国国家专利 (专利号5,578,830)。FHT 762是其zei新的改进型，具有优良的能量响应和角度响应，而且极大地扩展了高能响应。使用了大体积He-3计数管，具有极高的灵敏度和很强的......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
TRACE™ 1310 炼厂气分析仪货号: REFGAS030111具有速度和灵活性所有系统均为“快速 RGA”设计，以加快样品周转双烘箱设计（程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱）至多可容纳 6 个色谱柱，实现理想的色谱柱管理系统具有即时连接探测器模块，可在几分钟内完成探测器更换，从而延长正常运行时间四个独立的探测器信号，用于同时收集数据、简化......
牛津仪器EBSD系统EBSD用于测定Polymer Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 层状聚合物结构的成像与失效分析 EBSD——电子背散射衍射仪——是一种强大的微观分析仪器，它能精密的分析和表征晶态材料的微观组织和性能，提高速度和数据质量。 Symmetry是牛津仪器公......
点击查看下载能谱探测器Ultim Extreme牛津仪器 EXTREME 能谱探测器相关资料，进一步了解产品。 牛津仪器 EXTREME 能谱探测器 应用手册 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱，晶体面......
点击查看下载牛津仪器门控探测器高光谱仪 门控探测器相关资料，进一步了解产品。 牛津仪器 ANDOR iStar 门控探测器 应用手册 全新iStar sCMOS超快帧速可达4,000 fps低噪声，高灵敏度简单易用，高度兼容小于2ns的高精度门控市场领先的全幅动态范围 整合先进的CCD & sCMOS芯片以及像增强器技术......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......