辉光放电光谱仪 俄歇电子能谱

Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的zei佳工具。 ELEMENT GD集中了辉光放电和高分辨质谱的优势,在以下方面有杰出表现:· &nb......

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Profiler HR 辉光放电光谱仪

参考成交价格: 暂无

堀场HORIBA 辉光放电光谱仪

型号:Profiler HR 辉光放电光谱仪

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GD-Profiler HR拥有独一无二的超高光谱分辨率,为解决复杂基体中的疑难问题提供了适宜、便利的方法。技术参数:1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短、表面信息无任何失真。2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜,也可以很好地分析热导性能差和热易碎的涂/镀层和薄膜。3、Polyscan多道(同时)......

辉光放电光谱检测方法利用低压,通过氩离子束对样品表面均匀溅射物质的非热能处理技术。溅射出的物质离开样品表面随后被原子化并在低压等离子放电区域被激发。GDS850A就是针对提高实验室进行过程控制和研究,以及研发的技术设计的。 这个型号的仪器可提供非常高的准确的元素总量分析以及对于涂层和表面处理的断面深度定量分析。其提供的光谱分析范围可从120nm 到......

Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的zei佳工具。 ELEMENT GD集中了辉光放电和高分辨质谱的优势,在以下方面有杰出表现:&m......

 AstruM ES是一台双聚焦辉光放电质谱仪,一次扫描就可以测定从亚ppb到基体之间所有元素的含量。它被广泛地应用在高纯金属,半导体材料,航空航天材料的杂质检测。......

赛默飞ICP-MSELEMENT GD Plus可用于测定整体材料,适用于超痕量金属项目。并且参考多项行业标准相对灵敏度系数。可应用于电子/半导体行业领域。   ELEMENT GD PLUS GD-MS 将具有优越属性的不同部件集成在单一仪器中,提供了无与伦比的速度、灵敏度和准确性。ELEMENT GD PLUS GD-MS 离子源和样品夹的设计......

点击查看下载堀场HORIBA GDSHORIBA 射频辉光放电光谱仪 GD-Profiler 系列射频辉光放电光谱仪 - 中文相关资料,进一步了解产品。 现在,大多数的材料都是多层结构,比如太阳能光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等。它们表面经过特殊处理或采用了先进镀层来改善材料性能,如提高耐腐蚀能力。 辉光放电光谱仪是解密镀层工艺、解析镀层结构的......

ELS100型:(电子损失谱专用) ¨ Low Energy Electron Gun designed for Electron Loss Spectroscopy(ELS) ¨ Beam Energy variable 5 to 100eV ¨ Low Energy Spread ~ 0.25eV FWHM us......

俄歇电子能谱 AES

参考成交价格: 1000元[人民币]

北达微构 能谱分析

型号:俄歇电子能谱 AES

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服务详情俄歇电子能谱(Auger electron spectroscopy,简称AES),是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子,这一连串事件称为俄歇效应,而逃脱出来的电子称为俄歇电子。1953年,俄歇电子能谱逐渐开始被......