俄歇电子能谱仪
仪器简介：美国专利 日本技术 90%市场占有率 是金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高，信息深度5纳米以内技术参数：俄歇电子能谱仪 • He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息 1） 成分 2） 图像 3） DETECT LIMIT 0.1% ......
上市时间：2019年9月集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体，体现了的超强的便捷性；拥有多种X 射线源、大半径双层能量分析器，杰出的荷电中和技术，使其获得了卓越的性能；通过丰富的硬件接口和灵活的软件接口，具备了多种功能附件和完善的表面分析技术。产品介绍岛津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作为高端光电子能谱仪将采谱、成像功能与自动化高......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+参考多项行业标准/ VBA。完成 膜材料 的检测。可以用在多个行业领域中的其他 项目。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 ......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+用于测定膜材料 ，符合行业标准/ VBA。适用其他 项目。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 kV最大团簇能量可以保证无机......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+可以用在多个行业领域，用来检测膜材料 ，可完成其他 项目。符合多项行业标准/ VBA。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 ......
AXIS SUPRA+X光电子能谱XPS岛津 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20 kV最大团簇能量可以保证无机材料的有效分析。
参考成交价格： 暂无
型号：AXIS SUPRA+
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+适用于其他 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测 膜材料 等样品。可应用于多个行业领域。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析......
岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+可以用在多个行业领域，用来检测 膜材料 ，可完成其他 项目。符合多项行业标准/ VBA。 岛津AXIS Supra具备全自动传样系统，样品预抽时便可进行目标测试位置选择与深度剖析方法的提交。可配GCIS多模式离子枪，单氩离子模式用于金属类膜材料的深度剖析，低能团簇模式适用于常规有机物的刻蚀分析，20......
岛津X光电子能谱XPSAXIS SUPRA+适用于厚度 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测石墨烯薄膜 等样品。可应用于多个行业领域。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景。本文通过XPS（X射线光电子能谱）成像对Si片上沉积的石墨烯进行了分析，通过选区采谱对石墨烯表面元素含量进行了分析，并对石墨烯薄片厚度进行了推......
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岛津/Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+用于测定石墨烯薄膜 ，符合行业标准/ VBA。适用厚度 项目。 石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景。本文通过XPS（X射线光电子能谱）成像对Si片上沉积的石墨烯进行了分析，通过选区采谱对石墨烯表面元素含量进行了分析，并对石墨烯薄片厚度进行了推测。 上市时间：2......