sem图像分析
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。产品特点：肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（G......
系统简介JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan产品）组合使用，能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区域的三维重构。通过三维重构能够观察二维图像上无法看到的细胞的深处结构。操作 自动、反复地切割样品和获取图像，能获得大量的切片图像。 对获得的切片图像，通过软件进行堆叠、调节、生成三维图像。应用数据 小......
上市时间：2019年7月本产品整合了粒度和图像分析技术，在两分钟内完成颗粒成像、尺寸分析、异物检测、粒度分布同时可以得到准确的粒子计数浓度 ?超过90%的高效图像采集效率 与传统的池技术和镜头技术相比，微量池技术可以更清晰地显示颗粒图像，同时减少通过成像区域以外的颗粒数量，传统仪器图像采集效率小于10%，DIA-10采集效率超过90% ?±5%以内的计数浓度......
从粒子图像、尺寸、形状到个数浓度实现自动测定动态粒子图像分析系统iSpect DIA-10 岛津制作所开发出动态粒子图像分析系统“iSpect DIA-10”于2月25日在日本上市，进军粒子图像解析装置市场，该系统能够对液体试料中所含有的粒子进行图像拍摄,并自动检测粒子的尺寸、形状、个数浓度。 本产品通过以高倍率拍摄流路中流动的含有粒子的液体样品图像并进......
粒子计数和图像测量可以用一台仪器来实现iSpect DIA-10提供了先进的粒子分析技术，将单个粒子的图像信息添加到精确的粒子计数中。采用宽聚焦区域的远心镜头与微流池技术相结合，可聚焦整个流路，大幅度减小了颗粒漏检，实现了精确的颗粒计数和可靠的颗粒检测。 可有效分......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......
徕卡德国 人工智能图像分析软件 Aivialeica Aivia适用于人工智能显微成像分析软件项目，参考多项行业标准。可以检测人工智能显微成像分析软件等样品。可应用于多个行业领域。 Aivia为显微成像工作者和研究人员提供高性能的图像处理和可视化工具，协助其从图像中提取更多信息。Aivia采用先进的Al-frst软件架构，提供二维至到五维图像可视化、分析和解......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature适用于Pore Fluids项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pore Fluids等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 岩芯分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物分析系统。结合大面积能谱......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......