电镜sem放大倍数
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。 特 点：· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构，具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时，进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温～800℃温度范围内，重复向样品......
Prisma E SEM是一款高度灵活的扫描电子显微镜(SEM)，在各种条件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和环境扫描的SEM (ESEM)模式，它完全具备分析不导电，含气体、水分或其它非常规测试的样品。Prisma E SEM的高度灵活性、便捷使用性以及对样品的宽泛适用性，是多用户实验室的理想选择。产品参数：发射源：钨灯丝（高性能电子光学镜筒，双阳极热......
主要技术参数手动熔点测定支持手动沸点测定支持自动熔点测支持自动沸点测定支持均匀装样可选M-569自动装样器用于放置熔点毛细管的位置个数3用于放置沸点毛细管的位置个数1精密放大镜是放大镜倍数2.5 x数码摄像头是视频功能是放大显示6x显示屏彩色, TFT, 320x240, 3.5"测定温度范围环境温度10°C至400°C温度分辨率0.1°C准确度室......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Polymer Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Polymer Materials项目。 聚合物添加剂分析 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检测64位系统，实现真正的多任务同时工作可以分析一个样品中超过200,00......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜（原FEI) 应用于其他化工相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（E......
点击查看下载透射电镜（原FEI) Verios XHR SEM 应用于地矿/有色金属相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研......