双束电子显微镜
仪器简介：JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。技术参数：FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 1.2nm, 30kV 气体输入系统 1-3主要特点：监......
仪器简介：JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。产品特点：双束加工观察系统 JIB-4700F能进行高分辨观察、高速分析、高速加工的FIB/SEM 装置。随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIB赛默飞FIB-SEM 电子显微镜产品目录相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的......
DB500拥有自主可控的场发射电子镜筒和“承影”离子镜筒，是一款优雅全能的纳米分析和制样工具。高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无漏磁物镜设计，低电压高分辨率成像，保证纳米分析能力。“承影”离子镜筒采用液态镓离子源，拥有高稳定、高质量的离子束流，保证纳米加工能力。集成式的纳米机械手、气体注入器、电子物镜防污染机构，拥有24个扩展口，配置全面，自主......
赛默飞Helios 5 DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）
参考成交价格： 暂无
Thermo Scientific 双束聚焦扫描电镜（FIB-SEM）
型号：Helios 5 DualBeam
DUALBEAM 显微镜Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列领先业界的高性能电子显微镜成像......
DB550是一款优雅全能的纳米分析和制样工具，低电压高分辨的电子镜筒，保证纳米分析能力。“承影”离子镜筒提供了高稳定、高质量的离子束流，保证纳米加工能力。集成式的纳米机械手、气体注入器，一体化设计的控制软件，为您打造全能纳米分析和加工中心。亮点低压高分辨电子镜筒“承影”离子镜筒丰富的扩展能力集成式气体注入器集成式纳米机械手快速换样仓（最大8寸）产品优势高压隧......
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性，需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜（TEM）正日益成为这种分析的首选技术，并依赖于通过聚焦离子束（FIB）铣削生产的高质量样品。赛默飞世尔科技Helios 5 EXL Dual......
产品描述Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。主要优点具有独特离子源的最大应用空间，......
货号: HELIOS5CXThermo Scientific™ Helios™ 5 CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，结合了创新的 Elstar™ 电子镜筒（可实现较高分辨率成像和较高的材料对比度）与卓越的 Thermo Scientific™&......
双束扫描电子显微镜检测 双束扫描电子显微镜（DB-FIB）是将聚焦离子束和扫描电子束集成在一台显微镜上，再加装气体注入系统（GIS）和纳米机械手等配件，从而实现刻蚀、材料沉积、微纳加工等许多功能的仪器。广电计量能提供一站式双束扫描电子显微镜检测服务。服务内容广电计量的DB-FIB均配备了纳米机械手，气体注入系统（GIS）和能谱EDX，......