双束扫描电子显微镜
TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员，是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。TESCAN AMBER FIB-SEM的优点：新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的......
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性，需要对深埋在器件内部的特征进行高分辨率、原子级分析。透射电子显微镜（TEM）正日益成为这种分析的首选技术，并依赖于通过聚焦离子束（FIB）铣削生产的高质量样品。赛默飞世尔科技Helios 5 EXL Dual......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
点击查看下载扫描电镜 双束加工观察系统日本电子 样本相关资料，进一步了解产品。 JEOL是全世界电子光学仪器发展的引领者，近年推出的一系列全新的电子光学产品性能好，稳定性强且智能化程度高，操作得心应手，是材料表征和分析的绝佳选择。 JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨......
点击查看下载赛默飞FIB-SEM DualBeam双束扫描电镜 样本相关资料，进一步了解产品。 描述300mm全晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜类型FIB-SEM分辨率1.0 nm @ 15 kV；0.9 nm @ 1 千伏单位面积each 对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件......
产品描述：Helios5DualBeam是赛默飞世尔科技全新一代的产品，它在高性能成像和分析性能方面处于领先地位。这款产品经过精心设计，可以满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的FIB-SEM使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准，具有最高的材料对比度、最快、最简单、最精确的高质量样品制备，以及用于S/T......
产品描述：新一代的赛默飞世尔科技Helios5DualBeam具有Helios5产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它是根据需求精心设计的，可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的FIB-SEM使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准：材料对比度最高，高质量样品制备最快、最简单、最精确，用于S/TEM成......
Helios 5 PFIB DualBeam无镓 STEM 和 TEM 样品制备多模式亚表面和 3D 信息新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱Helios 5 PFIB DualBeam用于 TEM 样品制备（包括 3D 表征、横截面成像和微加工）的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜。Plasma focused ion beam instrumen......
Helios 5 DualBeam全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征快速纳米原型设计能力Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作，简单易用，并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios......