高效电子显微镜
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问：http://www.fei.com/pro......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。◇ 装置主体● 可配置Cs校正器和CFEG● 高速高精度的stage 与现有的马达驱动控制相比速度......
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。◇ 装置主体● 可配置Cs校正器和CFEG● 高速高精度的stage 与现有的马达驱动控制相比速度......
◇ 操作简单● 即使TEM的操作经验少也能直接操作设备 · 大量减少使用操作盘，直接按顺序点击显示画面上的按钮就能得到最终的图像 · 也可以用鼠标来进行调焦等操作 · 可以兼容GATAN CCD● 自动调整功能 · 自动聚焦、自动调整样品高度、......
高效LC-20A岛津 高效 安装准备条件针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 为了能够顺利地完成客户所购入的LC-20A 系统的安装工作，本设置重要事项书归纳了必须事先由客户准备的事宜。敬请客户留意本书内容，以使装置保持稳定，能够实现高可靠性的分析以及长期使用。 系统控制器 Prominence CBM-20A/20......