扫描式电子显微镜
仪器简介： JSM-6610A/ JSM-6610LA分析型扫描电子显微镜，与日本电子公司的元素分析仪（EDS）组合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。 技术参数： 放大倍数: 5-300，000倍 解 析 度: 高真空：3nm(30KV)/8nm(3......
SpectraMax Plus384 光吸收酶标仪 您现在可以在同一台 SpectraMax Plus384 读板机上实现标准的分光光度计和微孔板测读机的功能了。您可以选择一次性读取至多为384 个样品，SpectraMax Plus384 读板机可以读取任意一种标准规格的比色皿，1......
1. 強大的電子光學系統，簡單操作 Ⅰ zei新設計的超級圓錐型物鏡，保證3nm的解析度。很容易得到高品質照片。 Ⅱ 廣域掃描線圈可以得到zei低5倍的放大倍數從而提高觀察樣品的效率。 Ⅲ 優秀的電子光學系統可以在大束流下形成小束斑，有利於微區分析。 2. 高解析度 Ⅰ JSM6390系列超級圓錐形物鏡，在工作距離8mm時的解析度為3nm......
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
