扫面电子显微镜
轻松的元素分析在观察屏幕上可以随时显示分析区域内的特征X射线谱图以及自动定性的主要构成元素，利用此功能还可以发现感兴趣的元素和一些意想不到的元素。◇ 快速面分布＆长时间面分布70秒！面分布结果安装大口径的EDS支持快速面分布。卓越的性能可操作性强: 高亮度电子枪大大减少了从观察到分析的调整步骤 即使在工作距离10 mm、探针电流1 nA的分析模式下......
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问：http://www.fei.com/pro......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
产品介绍面屏支架用于结合安全帽和安全面屏,让使用者的头和脸部同时受到保护.塑料支架,塑料圆形卡槽,且带有弹簧带,可以方便、牢固的安装在安全帽上.产品特点● 材质:高耐冲击ABS塑料● 颜色:黑色● 面屏支架可分段掀起,操作简单便利● 可搭配大多数有前帽檐的安全帽使用● 可搭配P1763-01/P1763-03/P1763-04/P1763-16 抗冲击防护面......
岛津电子探针EPMA-1720系列可以用在多个行业领域，用来检测光纤，可完成使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。符合多项行业标准暂无。 使用岛津电子探针EPMA可对不同类型的光纤进行线、面分析测试。从单根光纤试样的横截面的元素线分布和面分布的测试结果可以观察掺杂元素的含量及扩散分布情况。凭借其在微区分析的强大能力，可以在光......
岛津电子探针显微分析仪EPMA-8050G可以用在多个行业领域，用来检测光纤，可完成使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。符合多项行业标准暂无。 使用岛津电子探针EPMA可对不同类型的光纤进行线、面分析测试。从单根光纤试样的横截面的元素线分布和面分布的测试结果可以观察掺杂元素的含量及扩散分布情况。凭借其在微区分析的强大能力，......