相差校正扫描透射电镜

日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......

产品特点:JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器,是一款原子分辨分析型透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm)。STEM-HAADF像的保证分辨率(78pm*1 )为世界之领先性能标配照明系统球差校正器,且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性,实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 (78pm*1、......

       JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器,是一款原子分辨分析型透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm)。标配照明系统球差校正器,且zei大限度地升了装置的机械稳定性和电气稳定性,实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 ......

日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......

技术参数:1.分辨率:STEM图像分辨: 0.071 nm           TEM点分辨:0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector)  2.放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x     ......

为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同......

为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。主要特点: ◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector)“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差(即6重像散,目前阻碍透射电镜分辨率进一步......

主要特点: ◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector)“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差(即6重像散,目前阻碍透射电镜分辨率进一步提高的最大障碍。),ASCOR和Cold-FEG的完美组合实现了从高加速电压到低加速电压下的高分辨率。 ◇ 自动像差校正软件JEO......

2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2)。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:1)提高了能谱分析效率到两倍以上。2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨......

产品简介 日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;可配置EDS双探头,固体角最大可达2.0sr;具备TEM、STEM,SEM和电子衍射等多种图像观测模式;镜筒和样品台经过了重新设计,显著提升了仪器的性能和稳定性......HF50......