上海失效分析仪器
电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统5部分构成，如果细分的话：主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、 物镜、衍射镜、中间镜、 投影镜、荧光屏和照相机。TESCAN TENSOR高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM TESCAN TENSOR 是一款中等加速......
牛津仪器-全功能视频级成像原子力显微镜Cypher VRS用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 Cypher VRS AFM是AsylumResearch首款，也是一款全功能视频级AFM。该款Asylum Research Cypher......
牛津仪器EBSD系统Symmetry S2可以用在纳米材料行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统，集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Sym......
牛津仪器EDSX-Max TEM可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率......
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破，可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是U......
牛津仪器EBSD系统EBSD适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 CMOS的灵敏度 无可比拟的灵敏度和动态范围，使得Symmetry成为zei具挑战性......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN可用于测定Power Semiconductors，适用于Power Semiconductors项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 失效分析 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素使用大面积能谱仪意味着：低束流下有足够的计数率尽可能高的实现图像......
牛津仪器NMRMQC+用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 样品尺寸（直径/体积）应用场合MQC+235 mm / 0.2 ml适用于多种应用场合的**配置。高共振频率提供**灵敏度，大样品尺寸实现良好再现性。10 mm* / 1 ml......
牛津仪器镀膜机PlasmaPro 100 PECVD适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于纳米材料行业领域。 失效分析 选择单晶片/批处理或盒式进样，采用真空进样室。 该PlasmalabSystem100可以集成到一个集群系统......
AsylumResearchAFM及扫描探针Cypher S参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Power Semiconductors的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的Power Semiconductors项目。 失效分析 原子力显微镜 Cypher S是一款打破传统AFM速度和分辨率限制的商业AFM。它使用的小型悬臂可以大幅......