las 徕卡 显微镜

荧光显微镜系统为高级的成像和分析  LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验,多定位,Z堆叠,和去卷积。  硬件和软件集成了zei大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件,处理,定量和分析。选项模块FRET技术,高级的时间间隔,通道不混溶,共定位......

成像软件给”EZ”记录和注解 Leica LAS EZLASLASEZ 软件, 与Leica EZ4 D 体视显微镜兼容和 Leica EC3, 和 ICC50 数码摄象机, 提供一个理想的公共, 容易使用, 恒定的平台给基础的教育, 工业和生命科学应用.LeicaLASEZ 引导用户通过摄象机设置和阴影修正给出高品质的图象和容许用户很容易地做注解和基本的测......

荧光显微镜系统为高级的成像和分析 LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验,多定位,Z堆叠,和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件,处理,定量和分析。选项模块FRET技术,高级的时间间隔,通道不混溶,共定位,多孔板采集,......

荧光显微镜系统为高级的成像和分析 LAS X Widefield Systems徕卡AF6000是一个综合应用系统解决方案 给在荧光显微镜 和 图像分析中应用 包括延时实验,多定位,Z堆叠,和去卷积。硬件和软件集成了最大的可靠性和图像纳入标准功能与 文件,处理,定量和分析。选项模块FRET技术,高级的时间间隔,通道不混溶,共定位,多孔板采集,3D呈现和去卷积......

                           “简易操作模式”便于您获得样品的完整视图,同时易于访问您的控制对话为您的工作流程服务LAS X 专为研究的每一步骤而打造。该平台可提供大程度的易......

管理多个样品同时分析多个样品,提高工作流程效率,借助自动化颗粒分析简化您的过程。例如,将来自一个过滤过程的多个过滤样品组合到一个单一批次进行分析,并为每个过滤器分配不同的颗粒分类设置。轻松生成报告,共享您的结果。现在,您可以 在每个批次中一次分析多个过滤器,节省时间设置不同的颗粒分类参数,例如每种过滤器的长度和宽度限值以圆形或矩形扫描图形进行测量使用显微镜......

                       LAS X 晶粒专家软件:拥有出众准确性和再现性的晶粒分析LAS X 晶粒专家模块所提供的成像环境允许用户快速分析钢和其他材料的结构。大量的结构和样品类型可以使用高度精确的......

With the software module Leica Application Suite X (LAS X) 3D Analysis you can measure various aspects of intracellular structures such as volumes of nuclei, their surface, or ......

                           钢材质量分析软件 LAS X Steel Expert: 智能、直观的用户界面优化工作流程实现快速的夹杂物分析工作流程。 LAS X Steel......

高效操作和图像分析LAS X 软件的用户界面布局巧妙,只需点击一下即可使用相关工具,快速达到操作目的。 使用测量模板可以减少人工步骤,从而更快获得结果。此外还有其他许多功能可以确保日常高效使用,包括: 进一步加强的成像功能,确保大面积样本也能在 X、Y、Z 方向进行拼接批量导入大型数据集对导入的图像进行重新校准,实现跨系统灵活性   &nbs......

厂商新闻