sem 碎
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
脆碎度简述：药片的脆碎现象是指片剂在包装或运输过程中由于振动摩擦而碎裂或破碎。脆碎度是指将片剂压碎裂瞬间所施加的力的大小，定义为损失重量与原始样品重量的百分比(%)，对大多数药片来说，最大重量损失百分比不超过1%是可被接受的。片剂脆碎度是在质量控制或生产过程的实验室中进行，脆碎度测试仪是用于脆碎度测试的仪器，以确定药片在运输过程中可以持续多长时间而不会破裂。......
脆碎度检查仪 脆碎度仪 脆碎度测定仪 FT-2000系列脆碎度检查仪 详细描述: 脆碎度是反映片剂质量的一项重要指标。它对片剂的生产、包装、运输等方面有着直接影响。FT-2000系列脆碎度检查仪是一种检查片剂脆碎度的专门仪器。它功能齐全，操作简......
脆碎度检查仪 脆碎度仪 脆碎度测定仪 FT-2000系列脆碎度检查仪 详细描述: 脆碎度是反映片剂质量的一项重要指标。它对片剂的生产、包装、运输等方面有着直接影响。FT-2000系列脆碎度检查仪是一种检查片剂脆碎度的专门仪器。它功能齐全，操作简......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloa......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......