sem 检测
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Aluminium Can的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的Quality Control项目。 The processing of aluminium sheet for use in aluminium can manufacture is a lo......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Construction Materials，符合行业标准Oxford Instruments。适用Construction Materials项目。 机械及电学性能 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Tissue Samples，符合行业标准Oxford Instruments。适用Classifying Ultrastructure项目。 Understanding the cellular processes in tissue samples requires microscop......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature用于测定Nano Material，符合行业标准Oxford Instruments。适用Nano Material项目。 纳米材料生长和表征 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使用更方便的颗粒物分析系统。结合大面积能谱的高......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature适用于Minerals and Metals项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Minerals and Metals等样品。可应用于高分子材料行业领域。 工艺矿物学与化学分析 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的AZtecFeature是一款速度更快、使......
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在地矿/有色金属行业领域，用来检测Metals alloys and ceramics，可完成Metals alloys and ceramics项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 材料成分和结构 SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeaturezei新推出的......
牛津仪器扫描电镜AZtecFeature用于测定Microstructure and Mechanical Properties，符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪，即使对起伏样品或激发产额极低的样......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......