sem 系统价格

雷尼绍扫Renishaw Raman-SEM联用系统

参考成交价格: 200~300万元[人民币]

雷尼绍 拉曼光谱仪

型号:Raman-SCA-SEM

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拉曼-电子显微镜联用系统使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。雷尼绍结构与化学成分分析仪(SCA)接口使(SEM)具有了inVia的拉曼分析能力。inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析技术,既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱,又克服了X射线能量散射谱(EDS)作为传统SEM内的分析技术的局限性。采用雷尼绍SEM-拉曼联用系统,您将受益于定位共......

TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统

参考成交价格: 1000~2000万元[人民币]

泰思肯 二次离子质谱

型号:FIB-SEM-TOF-SIMS

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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环,而元素分析是其中zei重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,例如因灵敏度不足、空间分辨率较差,无法进行轻元素、微量元素的分析,无法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能满足现阶段应用......

拉曼-SEM使您能够在一台系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用重新定义了便捷、效率和生产力。 雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼点测量和成像能力。 拉曼+SEM inVia和SCA接口提供了一种SEM内部分析技术,既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱,又克服了X射线能量散射谱 (E......

随着科研和材料制备技术的发展,对材料的表征手段的要求越来越高,科研人员希望一次性原位表征得到更多的样品信息,联用技术成为分析仪器发展的一大方向。雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪经过20多年的开发和优化,凭借其优异的品质和卓越的性能,已经成为市场上最可信赖的拉曼仪器。而凭借在精密机械和创新工程方面的丰富经验,以及inVia灵活的设计,已经实现拉曼技术与其他分......

雷尼绍是最早实现拉曼光谱与扫描电镜联用的厂家之一,其设计的两种设备的连接接口—化学与结构分析仪(SCA)具有非常高的灵活性,可实现市面上电镜制造厂商多种常用型号的SEM与雷尼绍inVia拉曼谱仪的连接。SCA提供了一种SEM内的分析技术,补充了光学显微镜为基础的拉曼光谱学,克服了SEM内传统的分析技术EDS的部分局限性,可原位完成Raman、SEM、EDS、......

雷尼绍是最早实现拉曼光谱与扫描电镜联用的厂家之一,其设计的两种设备的连接接口—化学与结构分析仪(SCA)具有非常高的灵活性,可实现市面上电镜制造厂商多种常用型号的SEM与雷尼绍inVia拉曼谱仪的连接。SCA提供了一种SEM内的分析技术,补充了光学显微镜为基础的拉曼光谱学,克服了SEM内传统的分析技术EDS的部分局限性,可原位完成Raman、SEM、EDS、......

牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可以用在电子/半导体行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 半导体制造解决方案 同一台SEMzei多可以同时配备4台能谱仪,即使对起伏样品或激发产额极低的样品也可以轻松检......

点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......

点击查看下载赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......

SEM高速刻蚀子系统XENOS刻写子系统是一种允许设计图案数据并产生用于带电粒子束(例如用于半导体光刻应用或聚焦离子束系统的电子束)转向的相应偏转信号的系统。可以连接到传统的扫描电子显微镜、FIB或双光设备上,升级系统,在半导体或其他材料上......

厂商新闻
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