sem的参数
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。 特 点：· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构，具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时，进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温～800℃温度范围内，重复向样品......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
配置方案： 美国鲁道夫DDM2911密度计 密度测量原理：U型振荡管方法，测量系统：自动测量，数字显示；密度测量范围0-3g/ cm3；密度测量精度0.00001 g/cm3；密度计的准确度0.00005 g/cm3；（DDM2911）★主机内置控温装置，温度控制范围0~95℃，温度控制精度0.03℃；★主机采用......
配置方案：折光仪J457 测量范围：1.26-1.72 超宽测量范围可以满足各种样品的测量需求。★测量精度：0.00001 RI★测量准确度：0.00002 RI★温度控制：半导体双控温，既可以控制样品池的温度，也可以控制样品盖的温度，保证样品所在的舱体温度稳定。★控温范围：10-110度，可到达120度控温精度：0.01......
配置方案：全自动旋光仪 Autopol 主要用途：用于分析新合成产物的特性；制药工业的定量检测；制糖工业的定量检测；香精香料的定量检测；手性分子物质的选择性检测等等。测量模式：旋光度、比旋度、浓度、以及用户自定义的其他模式。测量范围：旋光度：+/-89°Arc 比旋度：+/-999.99°Arc浓 度：0-99.9%分 辨......
配置方案：全自动进样器R837 多达50位的全自动进样器，可升级到70位。★50位进样器可以分成5个区，每个区有10个样品位，每区都可以自定义不同的测量模式，这样只需样品放到各自区域内，而不需要根据样品的不同，不断设定及调整不同的测量方法。多达3种清洗试剂，满足各种样品的清洗要求。样品杯及转盘可以根据客户的需要定制★可以自......
针对梅特勒托利多工业称重终端的设计InSite 配置工具是 PC 的应用，可用于保存各种终端设置参数值并在日后恢复，或者将配置复制至其他终端。 受支持的终端包括梅特勒托利多的 IND 和 ICS 型号称重终端。易于使用通过串口或以太网连接轻松地备份和恢复梅特勒托利多称重终端配置文件。为全球市场做好准备InSite 提供与称重终端内的用户语言相匹配......
点击查看下载Prisma E赛默飞 SEM扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......