sem的参数
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。 特 点：· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构，具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时，进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温～800℃温度范围内，重复向样品......
配置方案：折光仪J457 测量范围：1.26-1.72 超宽测量范围可以满足各种样品的测量需求。★测量精度：0.00001 RI★测量准确度：0.00002 RI★温度控制：半导体双控温，既可以控制样品池的温度，也可以控制样品盖的温度，保证样品所在的舱体温度稳定。★控温范围：10-110度，可到达120度控温精度：0.01......
配置方案： 美国鲁道夫DDM2911密度计 密度测量原理：U型振荡管方法，测量系统：自动测量，数字显示；密度测量范围0-3g/ cm3；密度测量精度0.00001 g/cm3；密度计的准确度0.00005 g/cm3；（DDM2911）★主机内置控温装置，温度控制范围0~95℃，温度控制精度0.03℃；★主机采用......
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式，并可灵活配置，多种配件选项能够满足各种需求。学术和工业研究实验室需要利用现代化SEM从最广泛的样品中获得大量数据，并获得出色的图像质量。同时，由于多数实验室均为多人操作或管理设备，SEM要......
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
针对梅特勒托利多工业称重终端的设计InSite 配置工具是 PC 的应用，可用于保存各种终端设置参数值并在日后恢复，或者将配置复制至其他终端。 受支持的终端包括梅特勒托利多的 IND 和 ICS 型号称重终端。易于使用通过串口或以太网连接轻松地备份和恢复梅特勒托利多称重终端配置文件。为全球市场做好准备InSite 提供与称重终端内的用户语言相匹配......
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Prisma E赛默飞 SEM扫描电子显微镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......
点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM赛默飞 样本相关资料，进一步了解产品。 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloa......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......