tescan t20透射电镜
TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能，是一款入门级，但是功能强大的分析型钨灯丝扫描电镜。紧凑简约的配置、优化的成像能力以及集成的元素成分分析功能，VEGA COMPACT 为研究常规材料的实验室提供一个高性价比的解决方案。VEGA COMPACT 采用了最新的 Essence™ 电镜控制软件，使得扫描电镜成像和成......
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器，适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒，具有超高的分辨率，在低电压下尤为明显；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，可以获得更好的图像衬度和表......
TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。TESCAN VEG......
由于镓在地壳中的浓度很低。在地壳中占总量的0.0015%。它的分布很广泛，但不以纯金属状态存在，而以硫镓铜矿（CuGaS2）形式存在，不过很稀少，经济上也不重要。镓是闪锌矿、黄铁矿、矾土、锗石工业处理过程中的副产品。TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员，是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统，它可以提供无与伦比的图像......
二维材料，是指电子仅可在两个维度的纳米尺度（1-100nm）上自由运动（平面运动）的材料，如纳米薄膜、超晶格、量子阱。二维材料是伴随着2004年曼彻斯特大学Geim 小组成功分离出单原子层的石墨材料——石墨烯（graphene） 而提出的。RISE 是一款新型的关联使用显微技术，结合了扫描电镜和共聚焦拉曼成像。通过RISE可以同时获得超微结构表面分析以及分子......
场发射扫描电子显微镜的日常维护中，操作人员应定期检查仪器设备的环境条件、光学系统、真空系统及附件设施，确保仪器在最佳工作状态下使用。试样的前处理好坏对场发射扫描电子显微镜的维护保养也有一定的影响，要保持试样清洁、干燥和具有良好的导电性、导热性，从加速电压、焦距、探测器模式等多方面正确处理特性各异的试样。TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射......
运用电子显微镜分析矿物的形貌、结构和化学成分的方法。电子显微镜是利用电子光学原理制成的一种显微镜,当电子枪发射的高速电子流与矿物样品相遇时,一部分透过样品,另一部分与样品的原子核相碰撞,电子将发生弹性散射,如与轨道电子碰撞时,则发生非弹性散射。由于物体不同部位的结构不同,透过它们的电子束将有疏密之别,因而形成质厚衬度(或反差)。电子流穿过晶体时也将发生衍射作......
稀土（Rare earth）是元素周期表中的镧系元素和钪、钇共十七种金属元素的总称。自然界中有250种稀土矿。最早发现稀土的是芬兰化学家加多林（John Gadolin）。1794年，他从一块形似沥青的重质矿石中分离出第一种稀土“元素”（钇土，即Y2O3）。因为18世纪发现的稀土矿物较少，当时只能用化学法制得少量不溶于水的氧化物，历史上习惯地把这种氧化物称为......
工业ct无损检测是利用物质的声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下，检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷大小，位置，性质和数量等信息。TESCAN DynaTOM全球首款专用的动态X射线显微镜系统，满足您更复杂的原位实验需求TESCAN DynaTOM 是全球首款也是唯一一款专用于满足最苛刻条件下实现延......
随着制造业的迅速发展，对产品质量检验的要求越来越高，需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求于是，许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT 技术便是其中的一种TESCAN DynaTOM全球首款专用的动态X射线显微镜系统，满足您更复杂的原位实验需......