聚焦离子束

仪器简介:JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪,对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体,应用范围广泛。技术参数:FIB 分辨率: 5nm, 30kV  SEM分辨率: 1.2nm, 30kV     气体输入系统 1-3主要特点:监......

JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后,就能对样品表面进行SIM观察 、研磨,沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品,为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较,SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异,这些都非......

第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......

JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后,能对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜样品,为观察样品内部制备截面样品。 该设备能配置3D观察功能、自动TEM样品制备功能,能对应多种制样需求。高性能FIB镜筒JIB-4000PLUS采......

JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后,就能对样品表面进行SIM观察 、研磨,沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品,为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较,SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异,这些都非......

点击查看下载Aquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜赛默飞 其他资料相关资料,进一步了解产品。 锂离子电池性能优良,已经广泛应用于小型电子产品中,在电动汽车和混合电动汽车领域以及储能领域也在不断发展中,这对保持环 第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜 Thermo Scientific Aquilos ......

点击查看下载FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜 样本相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最......

DUALBEAM 显微镜Helios 5 DualBeam用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列领先业界的高性能电子显微镜成像......

产品描述Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合,可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。主要优点具有独特离子源的最大应用空间,......

fibTOF 将聚焦离子束二次离子质谱(FIB-SIMS)灵敏 3D化学成像通过将 FIB-SIMS 功能集成到 FIB-SEM 显微镜中,fibTOF 可提供纳米尺度的精确三维化学成像。元素和同位素三维成像 对大多数元素具有高灵敏度,包括氢、锂、硼和氟等低质量元素。可实现的空间分辨率 横向小于 50 纳米,深度小于 10 纳米。明确的元素标识 质量分辨率高......