电子探针聚焦离子束

第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......

岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列用于测定光纤,符合行业标准暂无。适用使用岛津电子探针 EPMA 对不同类型的光纤进行线、面分析测试项目。   使用岛津电子探针EPMA可对不同类型的光纤进行线、面分析测试。从单根光纤试样的横截面的元素线分布和面分布的测试结果可以观察掺杂元素的含量及扩散分布情况。凭借其在微区分析的强大能力,可以在光纤预制棒、烧缩工艺后......

岛津电子探针EPMA-1720系列参考多项行业标准/ VBA。完成非金属矿产 的检测。可以用在地矿/有色金属行业领域中的痕量元素 项目。 独居石是一种较为常见的副矿物,可以进行地质定年。以独居石为代表的稀土矿物的元素测试在微束分析领域有自身的特点及难点。本文针对稀土矿物独居石的测试难点进行了探讨,并给出了相应的解决方案。最后使用岛津电子探针定量测试了某独居石......

岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列可用于测定 珠宝/玉石 ,适用于表征 项目。并且参考多项行业标准/ VBA。可应用于地矿/有色金属行业领域。 先进的分析本领与优越的操作性能融为一体!前沿科技,隆重登场。高灵敏度 ·  高精度 ·  高分辨率 「简单•易懂的操作」从软件到硬件凝结了全新技术,铸就了新一代EPM......

岛津电子探针EPMA-1720系列参考多项行业标准/ VBA。完成 玻璃 的检测。可以用在多个行业领域中的 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试和分析。在玻璃制品生产过程中,产生条纹的因素有很多,对于玻璃条纹缺陷形态、成分及元素分布特征的表征可以为条纹缺陷产生的原因提供分析思路和......

岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列用于测定玻璃 ,符合行业标准/ VBA。适用 玻璃表面气泡区域的形貌及元素分析 项目。 采用SPM和EPMA技术观测玻璃表面的缺陷类型及缺陷处的元素分布,对玻璃生产加工工艺及质量控制可以起到一定的指导作用。 图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角......

点击查看下载FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB(原FEI)冷冻聚焦离子束显微镜 样本相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最......

产品描述Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合,可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。主要优点具有独特离子源的最大应用空间,......

[ 产品特点 ]ü  “强” 表征:Gemini 系统加持,成像媲美高端场发射电镜,样品兼容性强ü  “快” 制备:搭配高通量离子枪,快速完成亚表面结构截面制备与表征ü  “易” TEM:自动化流程 + 易用软件,简化高质量 TEM 薄片制备[ 应用领域 ]ü  先进材料ü  金属ü  新能源ü&n......

蔡司 Crossbeam 750 聚焦离子束扫描电镜

参考成交价格: 暂无

蔡司 双束聚焦扫描电镜(FIB-SEM)

型号:蔡司 Crossbeam 750 聚焦离子束扫描电镜

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[ 产品简介 ]蔡司 Crossbeam 750 专为高质量失效分析与高精准TEM制样量身打造。三大核心技术:全新的Gemini 4电子光学系统、升级的“HDR”实时观察技术、全面革新的控制软件,可以为您带来更稳定、更准确、更高效的设备使用体验,是先进制程半导体领域的新选择。 [ 产品特点 ]√超高分辨:全新的 Gemini 4电子光学系统√实时成......

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