双束聚焦离子束
仪器简介：JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。技术参数：FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 1.2nm, 30kV 气体输入系统 1-3主要特点：监......
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......
主要附件气体注入系统 (IB-02100GIS2)碳沉积圆筒 (IB-52110CDC2)钨沉积圆筒(IB-52120WDC2)白金沉积圆筒 (IB-52130WDC2)侧插式测角样品台 (IB-01040SEG)束流探测器 (IB-04010PCD)操作面板(IB-05010OP)样品台导航系统 (IB-01200SNS)FIB Tip-on(尖端上可以安......
仪器简介：JIB-4700F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。产品特点：双束加工观察系统 JIB-4700F能进行高分辨观察、高速分析、高速加工的FIB/SEM 装置。随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶......
SEM加速电压0.1 ～ 30.0 kV分辨率 (最佳WD时)1.2 nm (15 kV, GB模式)1.6 nm (1 kV, GB模式)倍率x20 ～ 1,000,000 （采用LDF模式）探针电流1 pA ～ 300 nA样品台计算机控制6轴测角样品台X: 50 mm, Y: 50mm, Z: 1.5 ～ 40 mm, R: 360°, T......
点击查看下载FIB-SEMAquilos 2 Cryo-FIB（原FEI）冷冻聚焦离子束显微镜 样本相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷冻聚焦离子束显微镜，Cryo-FIB）是一款专用的冷冻双束显微镜系统，可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最......
DB500拥有自主可控的场发射电子镜筒和“承影”离子镜筒，是一款优雅全能的纳米分析和制样工具。高压隧道技术（SuperTunnel）、低像差无漏磁物镜设计，低电压高分辨率成像，保证纳米分析能力。“承影”离子镜筒采用液态镓离子源，拥有高稳定、高质量的离子束流，保证纳米加工能力。集成式的纳米机械手、气体注入器、电子物镜防污染机构，拥有24个扩展口，配置全面，自主......
DB550是一款优雅全能的纳米分析和制样工具，低电压高分辨的电子镜筒，保证纳米分析能力。“承影”离子镜筒提供了高稳定、高质量的离子束流，保证纳米加工能力。集成式的纳米机械手、气体注入器，一体化设计的控制软件，为您打造全能纳米分析和加工中心。亮点低压高分辨电子镜筒“承影”离子镜筒丰富的扩展能力集成式气体注入器集成式纳米机械手快速换样仓（最大8寸）产品优势高压隧......
产品描述Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。主要优点具有独特离子源的最大应用空间，......
DB-FIB双束聚焦离子束显微镜 广电计量能够提供专业的双束聚焦离子束 (DB-FIB)分析服务。热门检测项目包括先进制程（14 nm及以下工艺节点）TEM样品切片，FA热点分析（包括OBIRCH等不同方法抓取的热点截面缺陷分析），常规定点截面加工等。服务内容/范围及检测项目a. TEM薄片样品切片双束聚焦离子束显微镜 (DB-FIB......