布鲁克全反射荧光光谱仪
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量......
品牌简介：布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。产品简介：S2 PUMA 仪器为台式能量色散型X......
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪TX 2000适用于N/A项目，参考多项行业标准。可以检测N/A等样品。可应用于高分子材料行业领域。 TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。应用范围TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含......
吉恩纳能散型XRFHORIZON用于测定N/A，符合行业标准。适用N/A项目。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定酱油，符合行业标准。适用元素含量项目。 仪器简介 TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很......
吉恩纳 全反射X荧光光谱仪HORIZON用于测定河水，符合行业标准ISO 20289-2018。适用元素 V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Pb项目。 水质分析对水资源保护、合理开发及污染处理等方面有着重要作用。常见的检测手段包括ICP-MS、ICP-OES、AAS、AFS等。AFS、AAS一次只能测定一种元素，检测多个元素多采用 ICP-OES......
吉恩纳能散型XRFTX 2000用于测定液体固体，符合行业标准。适用含量项目。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避......
吉恩纳能散型XRFTX 2000可用于测定N/A，适用于N/A项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部......