内销膜厚测量仪
Filmetrics F10-HC 光反射膜厚仪Filmetrics F10-HC 光反射膜厚仪产品介绍：Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光......
Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统 Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统产品介绍：Filmetrics F3-sX 光学厚膜测厚仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测量光斑，从而可以容易地测量其他膜厚测量仪......
Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统产品介绍：Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提......
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价，精度高无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手外观新颖，操作性提高非线性*小二乘法，实现光学常数解析（n：折射率、k：消光系数）对应膜种○ 多层膜 &nbs......
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外（190～1600nm）广波长范围。利用高分辨率传感器，可对应厚膜以及超厚膜样品类型：0.8～1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件，可解析多层薄膜的膜厚，光学常数（n:折射率，k：消光系数）等薄膜特性。利用背面反射补正，对应透明基板可测量微小光斑（*小3μm）的分光光谱可对应大型样品光学系图 式样 ......
仪器简介：球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体......
一、产品简介反射膜厚测量仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合，覆盖紫外到红外全光谱，抗干扰能力强，在振动或复杂环境下也能稳定工作。二、应用领域广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能......
一、产品简介非接触式膜厚测量仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合，覆盖紫外到红外全光谱，抗干扰能力强，在振动或复杂环境下也能稳定工作。二、应用领域广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域......