400-6699-117转2110
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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | FE-3000 |
品牌: | 大塚电子 | 产地: | 日本 |
关注度: | 456 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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反射式膜厚量测仪的产品特点
完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。
利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm
利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜厚,光学常数(n:折射率,k:消光系数)等薄膜特性。
利用背面反射补正,对应透明基板
可测量微小光斑(*小3μm)的分光光谱
可对应大型样品
光学系图
式样
样品尺寸 | 200mm*200mm*7mm(厚度) |
测量膜厚范围 | 1nm-1mm |
测量波长范围 | 190nm~1600nm |
可测量层膜数 | *大50层 |
传感器 | 电子冷却型光电二极管配列
电子冷却型CCDarea image sensor |
测量项目
多层膜解析
光学常数解析(n:折射率k:消光系数)
绝对反射率
测量实例
反射式膜厚测量仪FE-3000信息由北京先锋泰坦科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于反射式膜厚测量仪FE-3000报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途