岛津膜厚测量仪
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价，精度高无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手外观新颖，操作性提高非线性*小二乘法，实现光学常数解析（n：折射率、k：消光系数）对应膜种○ 多层膜 &nbs......
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外（190～1600nm）广波长范围。利用高分辨率传感器，可对应厚膜以及超厚膜样品类型：0.8～1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件，可解析多层薄膜的膜厚，光学常数（n:折射率，k：消光系数）等薄膜特性。利用背面反射补正，对应透明基板可测量微小光斑（*小3μm）的分光光谱可对应大型样品光学系图 式样 ......
仪器简介：球磨型膜厚磨损测试仪 球磨型膜厚测试仪Calotest为您提供简单快速并且低成本的膜厚测量方法。一个半径精确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体......
岛津波散型XRFXRF-1800型适用于膜厚测定、薄膜测定项目，参考多项行业标准。可以检测钢板涂层、薄膜等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 彩色涂层钢板的测定实例；电容器薄膜的测定实例 仪器简介： 可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250 um......
半导体材料光生伏特效应是太阳能电池运行的基本原理。现阶段半导体材料的光伏应用已经成为一大热门 ，是目前世界上增长最快、发展最好的清洁能源市场。太阳能电池的主要制作材料是半导体材料，判断太阳能电池的优劣主要的标准是光电转化率 ，光电转化率越高 ，说明太阳能电池的工作效率越高。根据应用的半导体材料的不同 ，太阳能电池分为晶体硅太阳能电池、薄膜电池以及III-V族......
SuperViewW白光干涉光学膜厚测量仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、......
一、产品简介反射膜厚测量仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合，覆盖紫外到红外全光谱，抗干扰能力强，在振动或复杂环境下也能稳定工作。二、应用领域广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能......
一、产品简介非接触式膜厚测量仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合，覆盖紫外到红外全光谱，抗干扰能力强，在振动或复杂环境下也能稳定工作。二、应用领域广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域......