PALS/90PLUS
1930年Dirac从理论上预言了正电子的存在和1932年Anderson在观察宇宙线中发现了正电子之后，揭开了研究物质和反物质相互作用的序幕。1951年Deutsch发现了正电子和电子构成的束缚态—正电子素的存在更加深了对正......
仪器简介：90Plus Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪，粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用电泳光散射原理，带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～......
仪器简介： 90Plus PALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。技......
仪器简介：90Plus激光粒度仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。动态光散射原理： 由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号，可以得到颗粒运动的扩散信息后，进而利用Stokes－Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。典型应用1.蛋白质/co......
贝克曼库尔特 多角度Zeta电位及纳米粒径同步分析仪DelsaMax PRO用于测定纳米材料，符合行业标准。适用单一角度测量项目。 应用动态光散射测量纳米粒度时，多角度测量比单一角度更有优势。N5为您的亚微米颗粒粒度分析提供最简化的要素。拥有强大的功能与用户友好界面的全新软件配合仪器精美的外形设计，使其成为艺术化的工具。仪器的检测系统包含着从11度至90度的......
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaMax PRO用于测定纳米材料，符合行业标准。适用单一角度测量项目。 应用动态光散射测量纳米粒度时，多角度测量比单一角度更有优势。N5为您的亚微米颗粒粒度分析提供最简化的要素。拥有强大的功能与用户友好界面的全新软件配合仪器精美的外形设计，使其成为艺术化的工具。仪器的检测系统包含着从11度至90度的六个散射角度。该项卓越独特的......
贝克曼库尔特 多角度Zeta电位及纳米粒径同步分析仪DelsaMax PRO适用于单一角度测量项目，参考多项行业标准。可以检测纳米材料等样品。可应用于高分子材料行业领域。 应用动态光散射测量纳米粒度时，多角度测量比单一角度更有优势。N5为您的亚微米颗粒粒度分析提供最简化的要素。拥有强大的功能与用户友好界面的全新软件配合仪器精美的外形设计，使其成为艺术化的工具......
贝克曼库尔特Zeta电位DelsaMax PRO可用于测定纳米材料，适用于单一角度测量项目。并且参考多项行业标准。可应用于纳米材料行业领域。 应用动态光散射测量纳米粒度时，多角度测量比单一角度更有优势。N5为您的亚微米颗粒粒度分析提供最简化的要素。拥有强大的功能与用户友好界面的全新软件配合仪器精美的外形设计，使其成为艺术化的工具。仪器的检测系统包含着从11度......
仪器简介：PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电......
产品简介： 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！详细说明： NanoBrook产品系列 项目90Plus......