光学轮廓仪测量原理
仪器简介： MCR流变仪的光学测量控温平台，可以实现一平台多功能的目的，在一个光学控温平台上，可以进行显微可视、UV光固化、偏光成像、荧光显微、小角激光散射（SALS）、红外光谱联用、拉曼光谱联用等流变-光学同步测量功能，可以在进行流变测试的同时观察样品的微观结构、进行光谱分析。 ......
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以前所未有的价格实现次纳米级的表面形貌研究。100mm自动XY样品台您还在位每人都希望要的功能而支付额外的费用吗？我们现在每台Pro......
1、简介 由于受到触针针尖半径等的影响，触针式表面轮廓仪横向分辨率受到限制，对于峰峰值很小的表面，触针很难伸到谷底，测得的轮廓失真严重。而且由于接触测量，锋利的针尖会划伤测量表面，同时触针使用一段时间后会产生磨损，都会使测量结果不可靠。因此非接触测量成为表面测量的一个重要方向。 干涉显微镜自上世纪至今一直是非接触测量高等级表面粗糙度的主要......
Get the Full Picture!光学表面测量系统 Leica DCM8应用方向：白光共焦干涉显微镜。Leica DCM8采用了zei新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。......
KD分析仍使用原有EBSD软硬件，只是样品更薄且经过电解抛光穿孔。由于衍射信号来自样品下侧几个或几十个纳米厚度的区域，该技术也被称为透射 EBSD（T-EBSD）。样品薄区的衍射范围较小，样品与探测器及极靴的几何位置是否理想是获得有效信号的必要条件之一。因此设计专门的样品座做TKD 分析就显得尤关重要。专为TKD分析的样品座，TKD即透射菊池花样演示分析......
Get the Full Picture!徕卡DCM8光学表面测量系统 Leica DCM8——Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。可通过各种规格的徕......
四方光电 扬尘传感器PM3003S扬尘传感器PM3003S基于光学散射原理，搭载工业级长寿命线性激光器，采用泵吸式采样方式，牢固可靠的金属结构，拥有全新尘源智能识别技术，实现颗粒物PM1.0、PM2.5、PM10、TSP质量浓度的准确输出。同时，兼容模拟信号输出，客户可根据自身需求进行标定。产品特性准确测量PM10，同时输出PM1.0、PM2.5、TSP与β......
NPFLEX三维计量系统为骨科医学植入物等大样本以及航空航天、汽车和精密机械加工行业中的较大部件提供了最灵活、最不接触、最三维的表面特征。它提供了数据密度、分辨率和重复性，超出了接触式仪器的可能，使其成为一种互补的技术或独立的计量解决方案。无与伦比的计量灵活性NPFLEX是专为调查广泛变化的样本大小和形状而设计的，而不损坏样品。不敏感的材料类型，该系统的WL......
结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了......
Formulaction其它光学测量仪TOWER可用于测定水，颜料，电子浆料，化妆品，适用于分散、稳定性和再分散项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/431。可应用于日用化学品行业领域。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER应用多重光散射的原理, 检测器所得到透射......