电子探测原理
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Power Semiconductors，可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 失效分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能旨在获得高输出效率与......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于高分子材料行业领域。 半导体制造解决方案 X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定 Li-Ion battery，适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于电子/半导体行业领域。 Lithium Ion batte......
牛津仪器 Symmetry 探测器EBSD用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 CMOS的灵敏度 无可比拟的灵敏度和动态范围，使得Symmetry成为zei具挑战性应用的理想之选......
牛津仪器硅漂移探测器X-MaxN适用于Power Semiconductors项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 失效分析 仪器简介：X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 ......
牛津仪器EBSD系统EBSD用于测定Pollutant Particles，符合行业标准Oxford Instruments。适用Pollutant Particles项目。 监测和过程控制 EBSD——电子背散射衍射仪——是一种强大的微观分析仪器，它能精密的分析和表征晶态材料的微观组织和性能，提高速度和数据质量。 Symmetry是牛津仪器公司基于C......
牛津仪器 Symmetry 探测器EBSD可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Semiconductor Devices，可完成Semiconductor Devices项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Before volume production of semiconductor devices, it is crucia......
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定 Li-Ion battery，适用于Identifying contaminants in Li-Ion battery production using AZtecFeature项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于机械设备行业领域。 Lithium Ion batteries are......
牛津仪器EBSD系统EBSD参考多项行业标准Oxford Instruments。完成岩石的检测。可以用在汽车/铁路/船舶行业领域中的Characterising Complex Rock Samples using Symmetry项目。 Geological samples can be extremely challenging to analyse ......
牛津仪器EDSX-MaxN可用于测定岩石，适用于Characterising Complex Rock Samples using Symmetry项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于纳米材料行业领域。 Geological samples can be extremely challenging to analyse u......