电子探测显微镜
TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来，而且该产品系列中包括将近 20 款型号。更多信息，您可访问：http://www.fei.com/pro......
Talos先进科技集于一身 Talos™ 是新一代 TEM 产品，致力于让用户迅速访问二维和三维数据，从而专注于研究发现。Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究，是一款融合了众多创新技术的多功能系统，能够在未来数年里满足您的研究需求。Talos 的材料科学应用Talos 可以在多个维度开展快速、精确、量化的材料表征分析，而且配备了全新的软......
Helios DualBeam™扫描电子显微镜......
技术参数：1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力最高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连......
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统，能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时......
牛津仪器 Symmetry 探测器EBSD用于测定Power Semiconductors，符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 半导体制造解决方案 CMOS的灵敏度 无可比拟的灵敏度和动态范围，使得Symmetry成为zei具挑战性应用的理想之选......
牛津仪器 Symmetry 探测器EBSD可以用在电子/半导体行业领域，用来检测Semiconductor Devices，可完成Semiconductor Devices项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 Before volume production of semiconductor devices, it is crucia......
牛津仪器EBSD系统EBSD参考多项行业标准Oxford Instruments。完成岩石的检测。可以用在汽车/铁路/船舶行业领域中的Characterising Complex Rock Samples using Symmetry项目。 Geological samples can be extremely challenging to analyse ......
点击查看下载X射线探测SMX-3100M 装置 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 【Clear Image】系统配合使用独立图像处理软件（ImageXpector-Pro）可获得没有变形、没有阴影的清晰图像。【Simple Operation】使用者均可轻松掌握的操作部使用方便的操作盒和显示器可以配合操作人员自由变化。 实现了轻松操作......