新品发布丨新一代实时相分析ChemiPhase技术

2023-12-20 11:58:01, 赛默飞 赛默飞材料表征仪器





在进行扫描电镜(SEM)材料分析时,通常需要对材料中的物相进行深入研究。虽然SEM中的背散射电子(BSE)探测器能够获取成分衬度并定性区分材料中的物相,但对于各物相元素组成及占比的定量分析却存在一定限制。引入背散射电子衍射(EBSD)探测器可通过识别晶体的菊池衍射花样获取晶体结构类型,从而实现准确的物相鉴定。然而,EBSD对样品表面质量要求很高,样品制备较为复杂,且购置EBSD探测器也对实验室预算构成一定负担。

为满足科研生产中既能高效准确又节省成本的物相识别方法的需求,赛默飞研发团队在Thermo Scientific ChemiSEM技术平台基础上,推出了ChemiPhase软件。该软件采用全新的相位识别方法,结合SEM上配备的X射线能谱仪(EDS)探测器和ChemiSEM软件平台,重新定义了物相鉴定的研究工作。通过鼠标一键点击,用户即可轻松获取结果,实现高效的物相定量分析。

ChemiPhase技术是赛默飞最新推出的基于X射线能谱技术的相鉴定分析软件。该软件完全整合于赛默飞SEM软件平台中,使用户能够在采集SEM信号的同时进行实时、高效的相分析。

相较于以往基于EDS方法进行相鉴定的复杂过程,ChemiPhase采用的物相分析方法具有显著的优势。传统方法需要先采集X射线计数面扫描图像,然后对每个像素点的谱图进行逐点定量分析,包括背底扣除、谱峰剥离、定量计算等多个步骤。这一系列流程耗时且容易出现误差,特别是在样品中存在多种元素谱峰重叠或某些区域元素X射线强度不足时。为确保结果准确性,用户还需要对样品有深入的了解。

ChemiPhase物相分析法可追溯到赛默飞上一代Noran EDS的物相分析功能COMPASS(专利US Patent 6684413, US Patent 6675106 )1。不同于传统方法,ChemiPhase软件首先在样品感兴趣区域内采集每个像素点的谱图,形成包含大量谱图的数据块。随后系统计算出数据块中具有统计意义的特征谱图,然后将每个像素点实际采集的谱图与其进行比较,计算出匹配不同特征谱图的概率,最终为每个像素点分配独一无二的相。该技术的理论原理基于主成分分析方法(Principal Component Analysis,PCA),这是一种由Karl Pearson于1901年开发的统计技术,通过复杂的数学原理将多个相关变量转化为较少的主成分变量,用于确定数据集内变量之间的关系。

  • 不同用户对同一样品可得到一致的结果

  • 完全自动运行,无需事先识别元素

  • 在没有丰富用户经验的情况下,定位微量和痕量元素

  • 提供全面而详尽的分析

  • 因谱峰重叠容易被漏标的元素所在的组分也能被轻松定位

  • 快速的数据采集

  • 可用极少的X射线数据进行相鉴定;每个像素仅需10个计数

  • 即使对于含多相的复杂样品,大多数采集也能在一分钟内完成

AlSiCu合金在增材制造中广泛应用,其包含三种独特的物相,微区组织的结构尺度处于亚微米级别。通过仅使用EDS对该样品进行分析,可获得不同元素的面分布,但仍存在信息缺失的问题。运用ChemiPhase技术,仅需一次点击即可获得丰富的信息:不同物相的辨识、各物相的化学组分,以及不同物相在样品中的面积占比。

利用ChemiPhase功能,可知图示区域有三种相,AlSiCu(红色),Si(黄色)及Al2Cu(绿色),三者的面积占比分别为84.5%,9.2%及6.3%。

图1    AlSiCu合金的相分析

双相不锈钢2205合金是一种具有高强度、良好的冲击韧性和抗应力腐蚀能力的材料,它的微观组织由体心立方的铁素体和面心立方的奥氏体两种相构成,两相成分十分接近。利用ChemiPhase可得出两相的占比分别是52.07%和47.93%。

图2  双相不锈钢2205合金的相分析

用于制造航空发动机涡轮叶片的镍基高温合金René 41的主要元素是Ni,同时还含有W, Mo, Ta, Hf, Co, Cr等金属元素,使其高温下保持稳定的原子结构和良好的物理性能。René合金主要含两种相,γ与γ’相,这两种相的成分十分接近,且二者均为面心立方结构,EBSD技术也难以将他们区分。利用ChemiPhase技术通过识别出不同相谱图中细微的差异,可以很轻松地区别出感兴趣区域内的三种相,γ、 γ’以及TaC相及各自的占比。

图3 镍基高温合金René 41的相分析

欲了解Thermo Fisher ChemiSEM与ChemiPhase的更多信息,请点击阅读原文

1 D.L. West ,ThermoFisher Scientific Inc,Principal Component Analysis in EDS, Microsc. Microanal. 21 (Suppl 3), 2015,171-172




  • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
  • 京ICP备07018254号
  • 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
  • 京公网安备1101085018
  • 客服电话: 400-6699-117 转 1000
  • 京ICP备07018254号
  • 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
  • 京公网安备1101085018

Copyright ©2007-2023 ANTPEDIA, All Rights Reserved