人流空前的2023全国电子显微学学术年会，TESCAN新型4D-STEM技术备受关注！

10月27日，2023年全国电子显微学学术年会在东莞市国际会展大酒店龙泉厅盛大开幕，大会为期3天，参会人数再创新高，吸引来自高校院所、企事业单位、仪器技术企业等电子显微学领域专家学者两千余人参会。 

TESCAN为本次大会带来新型4D-STEM技术，用报告、交流会与征稿的方式与感兴趣的专家学者进行了积极地交流互动，午餐交流会获得了圆满成功，收获了大量关注。

大会报告后中午，TESCAN公司还举办了一场午餐交流会，与前来参与的各位老师一起探讨4D-STEM的新技术。午餐会吸引了上百人前来观摩。

午餐会进一步介绍了TESCAN最新发布的集成和旋进辅助的分析型4D-STEM，它集成了旋进电子衍射，旋进频率达72000赫兹，另外还集成了直接电子探测器和双无窗能谱仪，可用于STEM成像、相分析、取向分析、应变分析和三维电子衍射等。

大会第一天下午，在第八分会场，TESCAN应用专家李景分享了FIB-SEM双束电镜最新应用进展。

围绕着TEM样品制备过程中经常遇到的四个问题: 如何省时省力，如何实现多种方式，如何制备高质量样品，如何定位感兴趣位置，对TESCAN的技术和功能进行了介绍，包括全新的AutoSlicer自动切片功能，配合安装在离子镜筒正下方的旋转机械手OptiLift，轻松实现倒切，平切以及侧切样品制备，氙气等离子双束电镜可以实现快速大面积无Ga离子注入的且无损伤层的样品制备，Rocking Stage 实现样品台绕着Y轴倾斜去除窗帘效应的同时可以进行电子束的实时观察，负角度下的Rotate Polishing 可以实现平面抛光，TOF-SIMS和Raman的加入，在光电联用软件的配合下实现定位的多样化，更容易找到感兴趣的位置。

第二天下午，第一分会场上，TESCAN应用工程师朱潇介绍了新一代高分辨率扫描电镜 TESCAN CLARA。

报告从优秀的高分辨能力，多探头全面分析能力，简便的操作方法与维护，模块化硬件平台四个方面进行了介绍。新一代Clara在硬件与软件上都进行了全新的升级，可以为科研人员提供更高精度的观察和更高的效率。