2022-12-22 08:32:30 利曼中国
1. X射线管靶材及功率条件
功率条件取决于作为目标材料和焦点类型的射线管。尽管Cu靶广泛用于衍射(特别是多用途衍射仪),但不建议使用Cu靶进行残余奥氏体分析,因为铁基材料的荧光很强(可以使用Cu靶,但需要从衍射光束中去除荧光)。
因此,可以使用Mo、Cr或Co来避免荧光,然后实现较低的背景。ASTM指出,推荐选择是Cr或Mo,这取决于是否需要获得更好的分辨率(Cr)或是否需要收集尽可能多的峰(Mo)以尽量减少样品问题(样品的不均匀性或织构)。
此外,Mo靶的辐射能量更高,也能使吸收效应zui小化,从而获得更高的计数率。因此,Mo靶是残余奥氏体测试的优选,我们选择它来装配到ARE X残余奥氏体分析仪。
至于推荐功率,它取决于辐射能量,因此Mo>Co>Cr。
2. Mo靶与Cr靶实际测试对比
对于残余奥氏体的XRD测量,可以使用任何能够记录至少2个α铁峰和2个γ铁峰的辐射靶才行,它可以是Cr、Mo,甚至Co。
图1 ARE X测试结果
如下图所示,使用Mo靶相较Cr靶而言还有其他优势,比如使用Cr靶的测试误差要大于Mo靶。
图2 测试结果的误差对比
使用Cr靶的优势是它可能具有更好的峰分辨率,因为峰彼此相距很远。但是,如果使用当前的快速检测器,这并无太大实际意义,所以对于ARE X残余奥氏体分析仪仍然推荐使用Mo靶。
意大利GNR公司是一家老牌的欧洲光谱仪生产商,其X射线产品线诞生于1966年,经过半个多世纪的开发和研究,该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。
X射线衍射仪(XRD)可测试粉末、薄膜等样品的晶体结构等指标,多应用于分子结构分析及金属相变研究;而全反射X荧光光谱仪(TXRF)的检测限已达到皮克级别,其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中,涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业;为迎合工业市场需求而设计制造的专用残余应力分析仪、残余奥氏体分析仪,近年来被广泛应用在高端材料检测领域,其操作的便捷性颇受行业青睐。
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